中文名 | 岩石光薄片 | 释 义 | 岩矿鉴定样品 |
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分 类 | 岩石光片、岩石薄片 | 取样地点 | 地质工作 |
1、对所采岩石、矿物、化石,作系统鉴定,统一定名,以便正确进行编录和填图。
2、系统研究岩石、矿石的物质成分、有用主元素的存在形式、矿石结构构造,正确确定岩石、矿物的名称,探讨成矿的地球化学条件和物理化学条件。
3、根据矿石的鉴定和分析资料,确定矿石的分布,划分矿石工业类型。
两者的主要区别在于它们的侧重点不同,分述如下:
岩石光片:侧重于对岩石中的金属矿物的观察研究,其主要是为了观察研究岩石中有用金属矿物主元素及伴生(共生)元素的赋存状态、自然类型、生成的先后顺序、共生还是伴生组合,以及金属矿物成分、含量、粒度、形态、结构构造及次生变化等特征。
岩石薄片: 侧重于观察研究岩石的结构、构造、矿物成份及其共生组合,研究矿物的变质、蚀变现象,确定岩石、矿物的名称,对比地层和岩石等。这里当然要包括岩石中主要矿物的赋存形态、晶形、粒度、含量、结构构造等特征。
在地质工作中通常要取一些岩矿鉴定样品,最常见到的有岩石光薄片。岩石光薄片是一个统称,它又可以分为岩石光片、岩石薄片。
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主要是利用所采岩石或矿石标本,通过矿物学、岩石学、矿相学等方法,结合的镜下观察,对矿石和围岩的矿物成分、矿石结构构造、矿物共生组合和生成顺序、近矿围岩蚀变特征、次生变化等进行研究,为确定岩石或矿石的矿物种类、分析地质构造、推断矿床生成地质条件、了解矿石加工技术性能以及划分矿石自然类型等方面提供资料依据。
所采集的样品应有充分的代表性。采集标本时要尽量采集新鲜的岩石,并做好野外地质观察描述工作。根据研究目的不同,采样的方法也有所不同,现将其主要的取样原则和方法简述如下:
1、岩石薄片样的采集:从勘查初期到勘探的各个阶段,根据各阶段的研究目的系统采集岩石标本。岩石标本的采集一般沿岩石性变化最大的方向进行。采集岩浆岩的标本要从岩体的接触带到中心系统采集,采集中应注意岩相的变化以及岩浆分异现象。对各种岩脉、析离体或残留体、同化混染带及围岩蚀变、代表性围岩也应采取标本;采集沉积岩、喷出岩的标本,应按层根据不同的目的要求采集,所采集的标本应代表不同相、不同层位、不同韵律的变化。如发现化石应小心凿取;采集变质岩的标本,要在含有分带标准矿物的各变质带内采取。
2、岩石光片样的采集:根据矿石自然类型、矿物组合、结构构造、蚀变特征进行采集。为例研究矿石的变化规律,应沿矿体的走向、厚度和倾斜三个方向,选择有代表性的若干剖面采集标本。应特别注意采集矿化地段的标本。在氧化带,要注意采集次生矿物以及不同部位不同氧化程度的矿石标本。
3、单矿物标本的采集:采取单矿物标本,是为了查明有工业意义的有用主元素及其伴生稀散元素的赋存状态和分布规律,研究它们在成矿过程中的作用和工业利用性能。有用元素主矿物和伴生矿物的标本在工业矿体内采取;用来划分成矿期、成矿阶段、的单矿物标本应在各期矿脉内采取。
瓷片挂贴施工工法 为追求装饰的效果,采用天然石材装饰的立面越来越多, 有的采用小规格 (边 长100—400mm)石材,用传统的干挂、湿挂等施工方法,所用石材厚度较大,重 量较重,施工处理复杂,在局部采用石材时受到很大的局限,即使处理,往往费 用也较高。若直接粘贴,则只能用于首层。 我们针对粘贴石材的受力特点及脱落 形态进行分析,在试验基础上,采用薄片石材 (厚度不大于 15mm)挂贴施工方法, 编制成本工法。 一、 特点 (1) 操作简单易行,安全可靠。 (2) 用薄片小型石材可减少石材厚度,节约资源。 (3) 价格便宜,可降低工程成本。 (4) 薄片小型石材自重较小, 拼贴样式不受限制, 可为建筑设计提供更多的选择。 二、 适用范围 适用于建筑内、外立面。 三、工艺原理 (1) 薄片小规格石材挂贴作法见图 l ,于长边大于等于 300mm的石材;长边小于 300mm的石材仅在石材上边正
1、切片方式不同
薄片要把岩石切至0.03mm以下,用树胶贴在载玻片下便于观察岩石的矿物组成等岩相学和岩组学特征。光片不需要载玻片或是盖玻片,只需要把岩石表面抛光。
2、实验仪器不同
薄片:主要用透射光显微镜 光片:用反射光显微镜。不过现在高级的显微镜同时配备有透射和反射光路。
3、磨片目的不同
薄片:主要是对岩石中的透明矿物进行观察,适用于一般岩石。但是若岩石中含有金属矿物,等无法判别。
光片:适用于矿石中矿石矿物(方铅矿、黄铜矿等)的判别。
准确地鉴定天然矿石、人造富矿中的透明矿物和半透明矿物(如橄榄石、硅灰石及铁酸钙等)的组成和它们与不透明矿物之间的关系,需要制成样品厚度为0.03MM的透明光薄片。制作方法是把矿石切成略大于2.5CM×1.5CM×1CM的长方形或其他形状的矿块,先将其一面粗磨;细磨直到玻璃板上细磨后,在清水中清洗。用固体光学树胶,把细抛光面粘在玻璃片上,再反过来经粗磨到细磨一直磨到厚度为0.03MM,然后在抛光机上抛光,制成既当薄片用(用以在偏光显微镜下鉴定透明矿物或半透明矿物),同时又能当光片用(用以在矿相显微镜下鉴定不透明矿物)的光薄片。这种光薄片可以在同一片子上研究不透明矿物和透明矿物或半透明矿物的相互关系。对研究人造富矿来说,制成薄片易于保丰,放在干燥器中长久保存不致粉碎。
薄片测厚仪适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。