锡膏测厚仪

安悦电子（CanYon)利用激光投射原理，将高精度的红色激光（精度可达15微米）投射到印刷锡膏表面，并利用高分辨率的数字相机将激光轮廓分离出来。根据轮廓的水平波动可以计算出锡膏的厚度变化并描绘出锡膏的厚度分布图，可以监控锡膏印刷质量，减少不良。

PCB尺寸: 365 x 860mm

PCB厚度: 0.4~ >5 mm

被测物高度: 75 mm

锡膏厚度: 10~1000 um

扫描帧率: 400帧/秒

扫描宽度: 12.8mm

高度分辨率: 0.056 um

高度重复精度: < 0. 5 um

体积重复精度: < 0.75%

GRR: < 8%

影像采集分辨率: 400万有效像素

视场: 12.8 x 10.2 mm

扫描光源: 650nm 红激光

背景光源: 红、绿、蓝LED（三原色）

Mark识别: 支持智能抗噪音算法，可识别多种形状Mark

3D模式: 色阶、网格、等高线模拟图任意角度旋转，比例和视野均可缩放，XYZ三维刻度

测量模式: 一键全自动、半自动、手动截面分析

测量结果: 平均高度、最高、最低、面积、体积、面积比、体积比、长、宽、目标数量等，主要结果可导出至Excel文件

SPC统计功能: 平均值、最大值、最小值、极差、标准差、CP、k、CPK等。Xbar-R均值极差控制图（带超标警告区），直方图

坐标采集: 支持采集和导出坐标到Excel文件2100433B

锡膏测厚仪：SPI (Solder Paste Inspection System)

测量印刷锡膏的厚度、平均值、最高最低点结果记录。面积测量，体积测量，XY长宽测量。截面分析: 高度、最高点、截面积、距离测量。2D测量：距离、矩形、圆、椭圆、长宽、面积等测量。

3D锡膏测厚仪REAL

1. 激光测量，锡膏测量精度达到纳米级，有效分辨率56nm（0.056um）2. 高重复精度（0.5um），人为误差小，GRR高

3. 数字影像传输：抗干扰，自动纠错，准确度高

4. 高分辨率图像采集：有效像素高达彩色400万像素

5. 高取样密度：每平方毫米上万点（平均每颗锡球达6~20取样点）

6. 多点基板扭曲修正功能：不但可以修正倾斜，还可以修正扭曲变形

7. 参照补偿功能：消除阻焊层、铜箔厚度造成的差异8.程序自动运行，一键扫描全板。每次扫描可测量多达数千个焊盘

9. 扫描自动适应基板颜色和反光度，自动修正基板倾斜扭曲，自动识别MARK

10. 大板测量：可扫描区域达350x430mm，可装夹基板长可超860mm

11. 彩色梯度高度标示，高度比可调。3D图全方位旋转、平移、缩放。显示区域平移和缩放

12.Xbar-R均值极差控制图、分布概率直方图、平均值、标准差、CPK等常用统计参数

根据三角函数关系可以通过该落差间距计算出待测目标截面与周围基板的高度差，从而实 现非接触式的快速测量。

SPC分析

SPC（Statistical Process Control）——统计制程管制，是企业提高品质管理水平的有效方法。它利用数理统计原理，通过检测数据的收集和分析，可以达到“事前预防”的效果，从而有效控制生产过程，不断改进品质。

SPC能为您科学地区分生产过程中的正常变化与异常变化，及时地发异常状况，以便采取措施消除异常，恢复制程的稳定，达到降低品质成本，提高产品品质的目的，它强调全部过程的预防与管制。SPC会告诉您生产过程的变化状况，您是否应该对生产过程进行调整作为全球制造业所信赖和采用的品质改进工具，SPC能帮助您最终达到6σ品质水平。品质稳定可以带来客户更大的满意度，减少变异可以大大降低不良品重工和停工的损失，节省大量时间和金钱，高品质可以大大提升企业的竞争优势。最后，SPC能评估您所采取的品质改进措施，以使品质得到持续地改善。

直方统计分析

直方统计分析的内容包括样本总数、平均值、最大值、最小值、方差、标准差、不良数、不良率、偏度、偏度误差、峰度、峰度误差、Ca、Cp、Cpk、Pp、Ppk等反映制程能力的统计指标。

厚度分布直方图显示的是厚度数据的区间分布。图2中，横坐标表示的是厚度值（单位：毫米），横坐标被等分成若干区间；丛坐标表示的样本数目。长方条表示的落其对应的厚度区间上的样本，长方条越高表明落在该区间的样本越多。

厚度分布表与厚度分布直方图相对应，显示的是厚度数据的区间分布。表格包括游标、编号、区间下限、区间上限、数量和百分比等项。百分比指的是落在本区间的样本数占样本总数的比例。

在功能栏上可以对图表的显示参数进行设置。

X-Bar Chart和R Chart分析

X-Bar Chart管制图显示的是各条记录中的各个测点的平均值（XBAR）的变化情况。

R Chart管制图显示的是各条记录中各个测点的最大值和最小值之差（Range）的变化情况。

管制数据表与X-Bar Chart管制图和R Chart管制图相对应，包括游标、编号、平均值、最大值、最小值、XBAR（平均值）和Range（最大值与最小值之差）等项。当管制数据表的游标指向某个记录的数据时，X-Bar Chart管制图和R Chart管制图中与之对应的数据点将被标上绿色框。

辅助功能栏可以对图表的显示参数进行设置。2100433B

解析度 0.005 mm

重复测量精度 0.001mm