航天材料及工艺研究所,先进功能复合材料技术重点实验室

碳纤维体积电阻率试验方法四探针法造价信息

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SKD碳纤维布浸渍胶 SKD807C-T 查看价格 查看价格

世康达

kg 13% 四川世康达土木工程技术有限公司
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世康达

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碳纤维 1K 3K 6K 12K/12K 碳纤维 查看价格 查看价格

kg 13% 吉林市双鹏碳材料科技开发有限公司
碳纤维、炭纤维 1K 3K 6K 12K/6k 碳纤维 查看价格 查看价格

kg 13% 吉林市双鹏碳材料科技开发有限公司
碳纤维、炭纤维 1K 3K 6K 12K/3K 碳纤维 查看价格 查看价格

kg 13% 吉林市双鹏碳材料科技开发有限公司
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青龙

13% 广西青龙化学建材有限公司柳州办事处
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13% 广东青龙建筑工程有限公司云南办事处
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青龙

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阳江市2012年12月信息价
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阳江市2011年11月信息价
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EDI电阻率 3-2820-1电阻率|1台 3 查看价格 深圳市九牧水处理科技有限公司 山东  青岛市 2020-05-20
体积电阻率测定仪 : 360mm× 350mm× 170 mm9、质量: 主机约5kg10、全自动测量、体积小、重量轻、准确度高,电阻流双显示,性能好稳定、读数方便11、所有测试压(10V/50V/100/250/500|1台 1 查看价格 北京中航时代仪器设备有限公司 全国   2018-05-09
电阻率 带表头 0-18MΩ×cm|1套 2 查看价格 深圳中正水处理工程设计研究中心 全国   2021-03-10
电阻率 RM220科达|9526个 1 查看价格 南昌同源环境科技有限公司 江西  南昌市 2015-11-10
电阻率 BZJ-303A上海|5364个 1 查看价格 南昌同源环境科技有限公司 江西  南昌市 2015-03-31
出水点/用水点电阻率 3-2820-1电阻率|4台 3 查看价格 深圳市九牧水处理科技有限公司 山东  青岛市 2020-05-20
体积游戏 展项设置了一面圆形的的幕墙,许多个钢针插在基板通孔内,整齐排列形成针幕.钢针外设安全套管,给观众带来舒适的验感.观众参与互动时,站在地台上,将身的某个部位按压在针幕上,推动这一区域的钢针凹陷进去.随后,来到幕墙的另一面,观察自己这个部位形成的深浅不一的轮廓形状.|1项 1 查看价格 安徽东一特电子技术有限公司 全国   2022-09-16
体积游戏 展项设置了一面圆形的的幕墙,许多个钢针插在基板通孔内,整齐排列形成针幕.钢针外设安全套管,给观众带来舒适的验感.观众参与互动时,站在地台上,将身的某个部位按压在针幕上,推动这一区域的钢针凹陷进去.随后,来到幕墙的另一面,观察自己这个部位形成的深浅不一的轮廓形状.|1项 1 查看价格 合肥金诺数码科技股份有限公司 全国   2022-09-14

陈聪慧、何凤梅、潘月秀、杨景兴、刘晓龙、朱世鹏、杨云华。

本标准规定了采用四探针法测量碳纤维复丝和单丝体积电阻率的原理、测量仪器、样品要求、试验条件、测量程序、结果的计算和试验报告等。

本标准适用于1K~24K各类碳纤维体积电阻率的测量,也可推广应用于导电类线材体积电阻率测量。模量大于600GPa的纤维不宜采用复丝电阻率测量方法,电阻率大于15μΩ"sup--normal" data-sup="1" data-ctrmap=":1,"> [1] 2100433B

碳纤维体积电阻率试验方法四探针法起草单位常见问题

  • 电阻率单位换算方法是什么?

    首先搞清换算单位,就感觉简单了.从Ω到KΩ、从KΩ到MΩ都是千制位,即1000Ω=1KΩ、1000KΩ=1MΩ.那么1MΩ=1000000Ω.1)400Ω=0.4KΩ=0.0004MΩ 2)1.5KΩ...

  • 电缆头耐压试验方法哪位懂?

    你好,35KV及以下交联聚乙烯绝缘电力电缆       超低频(0.1HZ)耐压试验方法       Very-Low-...

  • 土壤电阻率测量方法

    B.1 测量目的测量土壤电阻率ρ的目的是为了进行有效的接地设计。 B.2 一般原则 B.2.1土壤电阻率是土壤的一种基本物理特性,是土壤在单位体积内的正方体相对两面间在一定电场作用下,对电流的导电性能...

碳纤维体积电阻率试验方法四探针法起草单位文献

添加纳米银粉对导电胶体积电阻率的影响 添加纳米银粉对导电胶体积电阻率的影响

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将3种银粉,即:片状银粉、片状银粉加入5%纳米银粉的混合粉、片状银粉加入10%纳米银粉的混合粉,加入双酚F环氧树脂中配制导电胶。通过在玻璃基片上印刷导电胶条,固化后测量其长、宽、厚和电阻,利用公式ρ=Rs/l计算体积电阻率。结果表明,当纳米银粉添加量为5%时,体积电阻率出现明显下降,混合银粉含量为75%时的体积电阻率能达到1.6×10-4?·cm。在接近"穿流阈值"时,加入纳米银粉可以增大颗粒间的接触面积,形成更多的导电通路,能降低导电胶的体积电阻率。

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银粉含量对导电银胶体积电阻率的影响 银粉含量对导电银胶体积电阻率的影响

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制备了一种单组分、各向同性导电胶。利用四探针法测定了导电银胶中不同银粉含量下导电胶的体积电阻率,不同银粉含量下导电银胶的扫描电镜图,探索了银粉含量对导电胶性能的影响规律。

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四探针法基本简介

四探针法通常用来测量半导体的电阻率。四探针法测量电阻率有个非常大的优点,它不需要校准;有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准。

与四探针法相比,传统的二探针法更方便些,因为它只需要操作两个探针,但是处理二探针法得到的数据却很复杂。如图一,电阻两端有两个探针接触,每个接触点既测量电阻两端的电流值,也测量了电阻两端的电压值。我们希望确定所测量的电阻器的电阻值,总电阻值:

RT = V/I = 2RW + 2RC + RDUT;

其中RW是导线电阻,RC是接触电阻,RDUT是所要测量的电阻器的电阻,显然用这种方法不能确定RDUT的值。矫正的办法就是使用四点接触法,即四探针法。如图二,电流的路径与图一中相同,但是测量电压使用的是另外两个接触点。尽管电压计测量的电压也包含了导线电压和接触电压,但由于电压计的内阻很大,通过电压计的电流非常小,因此,导线电压与接触电压可以忽略不计,测量的电压值基本上等于电阻器两端的电压值。

通过采用四探针法取代二探针法,尽管电流所走的路径是一样的,但由于消除掉了寄生压降,使得测量变得精确了。四探针法在Lord Kelvin使用之后,变得十分普及,命名为四探针法。

数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准

而设计的,专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专

用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测

量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到

计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。

对于半导体材料的电阻率,一般采用四探针、三探针和扩展电阻。

电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多,四探针法是一种广泛采用的标准方法。它的优点是设备简单、操作方便,精确度高,对样品的形状无严格要求。

最常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。

一般四探针电阻率(电导率)测试仪均已配置厚度的修正,通过厚度数值的设置,计算出不同的样品厚度对电阻率的影响。

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