透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
《透射电子显微镜选区电子衍射分析方法(GB/T 18907-2002)》内容包括:范围、原理、仪器设备、试样、参照样品、试验方法、衍射谱的测量与计算等。《透射电子显微镜选区电子衍射分析方法(GB/T 18907-2002)》规定了用透射电子显微镜对薄晶体试样微米级区域进行选区电子衍射分析的方法。本方法适用于各种金属与非金属晶体薄膜(包括粉末试样与萃取复型试样)的电子衍射分析。
透射电子显微镜选区电子衍射分析方法基本信息
| 外文名称 | Method of Selected Area Electron Diffraction for Transmission Electron Microscopes | 书名 | 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法 |
|---|---|---|---|
| 作者 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 | 出版日期 | 2003年4月1日 |
| 语种 | 简体中文 | ISBN | 155066119336 |
| 出版社 | 中国标准出版社 | 页数 | 12页 |
| 开本 | 16 | 品牌 | 北京劲松建达科技图书有限公司 |
前言
1范围
2原理
3仪器设备
4试样
5参照样品
6试验方法
6.1仪器准备
6.2选区电子衍射谱的获得
6.3衍射常数Lλ的测定
7衍射谱的测量与计算
附录A(规范性附录)纯金与纯铝的晶面间距表
附录B(规范性附录)单晶体的标准衍射谱
B.1面心立方晶体的低指数晶带衍射谱
B.2体心立方晶体的低指数晶带衍射谱
B.3密排六方晶体的低指数晶带衍射谱
参考文献
透射电子显微镜选区电子衍射分析方法造价信息
《透射电子显微镜选区电子衍射分析方法(GB/T 18907-2002)》的附录A和附录B为规范性附录。本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出。本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口。本标准由北京科技大学材料物理与化学系、北京有色金属研究院测试所起草。本标准主要起草人:柳得橹、刘安生。
透射电子显微镜选区电子衍射分析方法常见问题
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电子显微镜的分类 1、透射电镜 (TEM) 样品必须制成电子能穿透的，厚度为100～2000 Å的薄膜。成像方式与光学生物显微镜相似，只是以电子透镜代替玻璃透镜。放大后的电子像在荧光屏上显示出来，TE...
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电子显微镜是根据电子光学原理，用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜，使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。 电子显微镜的分辨能力以它所能分辨的相邻两点的最小间距来表示。20世纪70年代，透射...
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顾名思义，所谓电子显微镜是以电子束为照明光源的显微镜。由于电子束在外部磁场或电场的作用下可以发生弯曲，形成类似于可见光通过玻璃时的折射现象，所以我们就可以利用这一物理效应制造出电子束的“透镜”，从而开...
透射电子显微镜选区电子衍射分析方法文献
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本文通过比较高压系统常用气态绝缘介质的性能,对比影响气体绝缘性能的关键参数,给出了透射电子显微镜高压电源箱绝缘材料的优化选择,介绍了六氟化硫(SF6)气体在透射电子显微镜高压电源绝缘中的应用,计算了充SF6绝缘气体的高压电源箱,并给出了透射电子显微镜高压箱的绝缘充SF6气体工艺。
原子水平的表面特征传感器—扫描式隧道电子显微镜(STM)
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旋进电子衍射仪安装在透射电镜上进行分析，主要功能为：（1）旋进电子衍射，获得接近于运动学强度的电子衍射花样，确定未知纳米晶体的晶体结构；（2）位向成像、纳米织构分析，获得纳米分辨率的晶体取向及晶相分布。
场发射透射电子显微镜概述
2.利用微区电子衍射、会聚束电子衍射及元素分析可对小至0.5nm尺度的物质进行结构和成分分析，因而特别实用于普通透射电镜难以分析的微细析出相，界面和畴等极小区域内成分、结构的研究。 3.利用所配置的GIF系统不但可分析物质的组成元素而且可分析组成元素的价态。
仪器类别: 03040701 /仪器仪表 /光学仪器 /电子光学及离子光学仪器 /透射式电子显微镜
指标信息: 具有高相干性、高亮度的场发射枪 最大倾转角:X=±35°，Y=±30° 加速电压:200kV、160kV、100kV、80kV 点分辨率:0.23nm EDS元素范围:B5~U92 晶格分辨率:0.102nm EDS能量分辨率:138eV
附件信息: 1.Gatan公司的GIF系统 4.普通单、双倾台 2.Link公司的EDS系统(超薄窗) 5.铍单、双倾台 3.日本电子株式会社的STEM系统 ,
周玉等的《材料分析方法(第3版)》主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。其内容包括：X射线物理学基础、X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法、物相分析及点阵参数精确测定、宏观残余应力的测定、多晶体织构的测定、电子光学基础、透射电子显微镜、电子衍射、晶体薄膜衍衬成像分析、高分辨透射电子显微术、扫描电子显微镜、电子背散射衍射分析技术、电子探针显微分析、其他显微结构分析方法及实验指导。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
《材料分析方法(第3版)》可以作为材料科学与工程学科的本科生和研究生教材或教学参考书，也可供材料成形及控制工程等其他专业师生和从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员学习参考。
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