铜箔测厚仪

在生产过程中如何选择膜厚仪呢?

首先取决于你所测产品的结构.如果只是简单的涂层,铜箔使用普通的膜厚仪就可以解决了.如铜箔测厚仪,涂层测厚仪.

如果测量多层金属镀层，目前最先进的方式：X-ray镀层测量法原理：

X射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。可视光线的波长为0.000001 m （1μm）左右,X射线比其短为0.1m至0.00000001 m (0.01- 100 Å)左右。

对某物质进行X射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。

（1） 萤光X射线

（2） 散乱X射线

（3） 透过X射线

SII的产品是利用萤光X射线得到物质中的元素信息(组成和镀层厚度)的萤光X射线法原理。和萤光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息(构造)。而透过X射线多用于拍摄医学透视照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类。

简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。

具体地说,比如用不同的装置测定食盐(氯化钠=NaCl)时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠(Na)和氯(Cl)构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠(NaCl)的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置(XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置(XRD)就很难判定,必须先用萤光X射线装置(XRF)得到元素信息后才能进行定性。

SII的X射线装置大致可分为以下2种产品。

管理表面镀层镀层厚度测定的SFT系列（萤光X射线镀层厚度测定仪）

分析材料组成(浓度)的SEA系列（萤光X射线分析仪）

日本精工电子有限公司（Seiko Instruments Inc.简称SII），于1978年领先于其他厂商，研究开发出日本第一台荧光X射线镀层厚度测量仪－SFT155。经过二十多年的努力，现在的荧光X射线镀层厚度测量仪能够准确地测量微小面积的镀层厚度。现已为全世界电子零部件、印刷电路板、汽车零部件等相关厂商提供了5000台以上的测量仪，深受用户的依赖与好评。从此，“SFT”几乎成为镀层厚度测量仪的代名词。

随着市场竞争的愈加激烈及产品更新换代的加快，客户需求也日新月异。为了迎接新世纪的挑战，本公司在SFT9000系列的基础上又推出更高性能的SEA5000系列仪器，更加充实了荧光X射线镀层厚度测量仪的应用领域。

*可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。

*可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。

*薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外，适用于无铅焊锡的应用。

*备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。