中文名 | 无损探伤 | 外文名 | Nondestructive testing |
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类 别 | 测试手段 | 作 用 | 检测 |
超声波探伤比X射线探伤具有较高的探伤灵敏度、周期短、成本低、灵活方便、效率高,对人体无害等优点;缺点是对工作表面要求平滑、要求富有经验的检验人员才能辨别缺陷种类、对缺陷没有直观性;超声波探 伤适合于厚度较大的零件检验
1)超声波在介质中传播时,在不同质界面上具有反射的特性,如遇到缺陷,缺陷的尺寸等于或大于超声波波长时,则超声波在缺陷上反射回来,探伤仪可将反射波显示出来;如缺陷的尺寸甚至小于波长时,声波将绕过射线而不能反射;
(2)波声的方向性好,频率越高,方向性越好,以很窄的波束向介质中辐射,易于确定缺陷的位置.
(3)超声波的传播能量大,如频率为1MHZ(100赫兹)的超生波所传播的能量,相当于振幅相同而频率为1000HZ(赫兹)的声波的100万倍.
无损检测:Nondestructive Testing(缩写 NDT)
常用的探伤方法有哪些?
无损检测方法很多据美国国家宇航局调研分析,认为可分为六大类约70余种。但在实际应用中比较常见的有以下几种:
常规无损检测方法有:
-超声检测 Ultrasonic Testing(缩写 UT);
-射线检测 Radiographic Testing(缩写 RT);
-磁粉检测 Magnetic particle Testing(缩写 MT);
-渗透检验 Penetrant Testing (缩写 PT);
-涡流检测Eddy current Testing(缩写 ET);
非常规无损检测技术有:
-声发射Acoustic Emission(缩写 AE);
-泄漏检测Leak Testing(缩写 UT);
-光全息照相Optical Holography;
-红外热成象Infrared Thermography;
-微波检测 Microwave Testing
AVG(DGS)曲线——也叫超声波发射声场曲线概念:描述规则反射体的距离、波幅、当量大小之间的关系曲线称为:“距离(A)-波幅(V)-当量(G)曲线”,德文为AVC;曲线,英文为DGS 曲线。用途:可...
X射线探伤仪 磁粉探伤仪 超声波探伤仪和着色探伤各有什么优缺点?
超声波探伤是利用声波检查内部质量,优点是灵敏度高,但是无法明确判定缺陷的性质,需要一定的经验。射线探伤是检查内部质量,优点是形象直观,但是无法判定缺陷深度。磁粉探伤是检查表面及近表面的缺陷。渗透探伤室...
探伤仪属于工业无损检测设备,也就是检测物体内部有没有缺陷的,比如气孔、夹杂、裂纹、白点、疏松等等,探伤仪其实和医院的一些检查人体的设备差不多,比如B超,X光(透视、CT),对应的无损检测设备就是A型超...
超声波探伤仪的种类繁多,但在实际的探伤过程,脉冲反射式超声波探伤仪应用的最为广泛。一般在均匀的材料中,缺陷的存在将造成材料的不连续,这种不连续往往又造成声阻抗的不一致,由反射定理我们知道,超声波在两种不同声阻抗的介质的交界面上将会发生反射,反射回来的能量的大小与交界面两边介质声阻抗的差异和交界面的取向、大小有关。脉冲反射式超声波探伤仪就是根据这个原理设计的。
便携式的脉冲反射式超声波探伤仪大部分是A扫描方式的,所谓A扫描显示方式即显示器的横坐标是超声波在被检测材料中的传播时间或者传播距离,纵坐标是超声波反射波的幅值。譬如TM260超声波探伤仪,
在一个钢工件中存在一个缺陷,由于这个缺陷的存在,造成了缺陷和钢材料之间形成了一个不同介质之间的交界面,交界面之间的声阻抗不同,当发射的超声波遇到这个界面之后,就会发生反射,反射回来的能量又被探头接受到,在显示屏幕中横坐标的一定的位置就会显示出来一个反射波的波形,横坐标的这个位置就是缺陷在被检测材料中的深度。这个反射波的高度和形状因不同的缺陷而不同,反映了缺陷的性质。 具体技术指标见(表1)。
技术参数TM260 |
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扫描范围: |
0~10000mm钢纵波 |
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工作频率: |
0.25MHz~20MHz |
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垂直线性误差 |
≤2.5% |
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水平线性误差 |
≤0.1% |
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灵敏度余量 |
>65dB(深200mmΦ2平底孔) |
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分辨力 |
>40dB(5N14) |
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动态范围 |
≥36dB |
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噪声电平: |
<8% |
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硬采样频率 |
150MHz |
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重复发射频率 |
100~1000HZ |
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声速范围 |
1000~9999(m/s) |
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工作方式 |
单晶探伤、双晶探伤、穿透探伤 |
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数字抑制 |
(0~80)%,不影响线性与增益 |
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工作时间 |
连续工作7小时以上(锂电池) |
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环境温度 |
(-20~70)℃(参考值) |
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相对湿度 |
(20~95)% RH |
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外型尺寸 |
240×180×50(mm) |
超探仪是一种便携式工业无损探伤仪器,它能够快速便捷、无损伤、精确地进行工件内部多种缺陷(焊缝、裂纹、夹杂、折叠、气孔、砂眼等)的检测、定位、评估和诊断。既可以用于实验室,也可以用于工程现场。本仪器能够广泛地应用在制造业、钢铁冶金业、金属加工业、化工业等需要缺陷检测和质量控制的领域,也广泛应用于航空航天、铁路交通、锅炉压力容器等领域的在役安全检查与寿命评估。它是无损检测行业的必备2100433B
数字化超声探伤仪的工作原理 数字化超声探伤仪的工作原理数字信号处理是在计算机中用程序来实现的。 通常,首先要进行的处理是去除信号中的噪声,其次是将已经去除噪声的信号 进行 UT 检测所需的处理,包括增益控制、衰减补偿、求信号包路线等。超声 信号经接收部分放大后,由模数转换器变为数字信号传给电脑,换能器的位置 可受电脑控制或由人工操作,由转换器将位置变为数字传给电脑。电脑再把随 时间和位置变化的超声波形进行适当处理,得出进一步控制探伤系统的结论, 进而设置有关参数或将处理结果波形、图形等在屏幕上显示、打印出来或给出 光、声识别及报警信号。数字化超声探伤仪的优点 与传统探伤仪相比,有 以下优点 : 1、检测速度快 数字化超声探伤仪一般都可自动检测、计算、记 录,有些还能自动进行深度补偿和自动设置灵敏度,因此检测速度快、效率高。 2、检测精度高 数字化超声探伤仪对模拟信号进行高速数据采集、量化、
探伤仪及探头的测试步骤 1.探伤仪及探头应具备的性能指标 1.1 探伤仪 1.1.1 工作频率: 0~5MHz 1.1.2 垂直线性误差:≤ 5% 1.1.3 灵敏度余量:≥ 46dB 1.1.4 动态范围:≥ 26dB 1.1.5 检测距离: 10~5000mm(纵波,钢材) 1.1.6 回波形式:全波检波 1.1.7 控制方式: 2dB×40范围数字控制衰减 1.1.8 最高重复频率:≥ 100Hz 1.1.9 程控衰减步长: 2dB 1.2 探头 1.2.1 回波频率误差:Δ f/f ≤15%MHz 1.2.2 分辨率(纵向) 直探头: X≥26dB 斜探头: X≥18dB 斜探头: X≥26dB 1.2.3 探头折射角误差Δβ a.β≤450,Δβ≤ 1.5 0 b.β>450,Δβ≤ 10 1.2.4 相对灵敏度 a.斜探头: S≥64dB b.直探头 (用
便携式超声波探伤仪现在通常是对被测物体(比如工业材料、人体)发射超声,然后利用其反射、多普勒效应、透射等来获取被测物体内部的信息并经过处理形成图像。便携式超声波探伤仪其中多普勒效应法是利用超声在遇到运动的物体时发生的多普勒频移效应来得出该物体的运动方向和速度等特性;透射法则是通过分析超声穿透过被测物体之后的变化而得出物体的内部特性的,其应用目前还处于研制阶段;
4.超声波探伤与X射线探伤相比较有何优的缺点?
答:超声波探伤比X射线探伤具有较高的探伤灵敏度、周期短、成本低、灵活方便、效率高,对人体无害等优点;缺点是对工作表面要求平滑、要求富有经验的检验人员才能辨别缺陷种类、对缺陷没有直观性;超声波探 伤适合于厚度较大的零件检验。
5、超声波探伤的主要特性有哪些?
答:(1)超声波在介质中传播时,在不同质界面上具有反射的特性,如遇到缺陷,缺陷的尺寸等于或大于超声波波长时,则超声波在缺陷上反射回来,探伤仪可将反射波显示出来;如缺陷的尺寸甚至小于波长时,声波将绕过缺陷而不能反射;
(2)波声的方向性好,频率越高,方向性越好,以很窄的波束向介质中辐射,易于确定缺陷的位置。
(3)超声波的传播能量大,如频率为1MHZ(100赫兹)的超生波所传播的能量,相当于振幅相同而频率为1000HZ(赫兹)的声波的100万倍。
6、超生波探伤板厚14毫米时,距离波幅曲线上三条主要曲线的关系怎样?
答:测长线 Ф1 х 6 -12dB
定量线 Ф1 х 6 -6dB
判度线 Ф1 х 6 -2dB
7、用超生波探伤时,底波消失可能是什么原因造成的?
答:(1)近表表大缺陷;(2)吸收性缺陷;(3)倾斜大缺陷;(4)氧化皮与钢板结合不好。
8、简述超生波探伤中,超生波在介质中传播时引起衰减的原因是什么?
答:(1)超声波的扩散传播距离增加,波束截面愈来愈大,单位面积上的能量减少。
(2)材质衰减一是介质粘滞性引起的吸收;二是介质界面杂乱反射引起的散射。
9、CSK-ⅡA试块的主要作用是什么?
答:(1)校验灵敏度;(2)校准扫描线性。
10、用超声波对饼形大锻件探伤,如果用底波调节探伤起始灵敏度对工作底面有何要求?
答:(1)底面必须平行于探伤面;
(2)底面必须平整并且有一定的光洁度。
11.超声波探伤选择探头K值有哪三条原则?
答:(1)声束扫查到整个焊缝截面;
(2)声束尽量垂直于主要缺陷;
(3)有足够的灵敏度。
12、超声波探伤仪主要有哪几部分组成?
答:主要有电路同步电路、发电路、接收电路、水平扫描电路、显示器和电源等部份组成。
13、发射电路的主要作用是什么?
答:由同步电路输入的同步脉冲信号,触发发射电路工作,产生高频电脉冲信号激励晶片,产生高频振动,并在介质内产生超声波。
14、超声波探伤中,晶片表面和被探工件表面之间使用耦合剂的原因是什么?
答:晶片表面和被检工件表面之间的空气间隙,会使超声波完全反射,造成探伤结果不准确和无法探伤。
15、JB1150-73标准中规定的判别缺陷的三种情况是什么?
答:(1)无底波只有缺陷的多次反射波。
(2)无底波只有多个紊乱的缺陷波。
(3)缺陷波和底波同时存在。
16、JB1150-73标准中规定的距离――波幅曲线的用途是什么?
答:距离――波幅曲线主要用于判定缺陷大小,给验收标准提供依据它是由判废线、定量线、测长线三条曲线组成;
判废线――判定缺陷的最大允许当量;
定量线――判定缺陷的大小、长度的控制线;
测长线――探伤起始灵敏度控制线。
17、什么是超声场?
答:充满超声场能量的空间叫超声场。
18、反映超声场特征的主要参数是什么?
答:反映超声场特征的重要物理量有声强、声压声阻抗、声束扩散角、近场和远场区。
19、探伤仪最重要的性能指标是什么?
答:分辨力、动态范围、水平线性、垂直线性、灵敏度、信噪比。
20、超声波探伤仪近显示方式可分几种?
答:(1)A型显示示波屏横坐标代表超声波传递播时间(或距离),纵坐标代表反射回波的高度;(2)B型显示示波屏横坐标代表超声波传递播时间(或距离),这类显示得到的是探头扫查深度方向的断面图;(3)C型显示仪器示波屏代表被检工件的投影面,这种显示能绘出缺陷的水平投影位置,但不能给出缺陷的埋藏深度。
21、超声波探头的主要作用是什么?
答:1、探头是一个电声换能器,并能将返回来的声波转换成电脉冲;2、控制超声波的传播方向和能量集中的程度,当改变探 头入射 角或改变超声波的扩散角时,可使声波的主要能量按不同的角度射入介质内部或改变声波的指向性,提高分辨率;3、实现波型转换;4、控制工作频率;适用于不同的工作条件。
22、为什么要加强超波探伤合录和报告工作?
答:任何工件经过超声波探伤后,都必须出据检验报告以作为该工作质量好坏的凭证,一份正确的探伤报告,除建立可靠的探测方法和结果外,很大程度上取决于原始记录和最后出据的探伤报告是非常重要的,如果我们检查了工件不作记录也不出报告,那么探伤检查就毫无意义。
23、无损检测有哪些应用
应用时机:设计阶段;制造过程;成品检验;在役检查。
应用对象:各类材料(金属、非金属等);各种工件(焊接件、锻件、铸件等);各种工程(道路建设、水坝建设、桥梁建设、机场建设等)。
24、超声波焊缝探伤时为缺陷定位仪器时间扫描线的调整有哪几种方法?
答:有水平定位仪、垂直定位、声程定位三种方法
25、在超声波探伤中把焊缝中的缺陷分几类?怎样进行分类?
答:在焊缝超声波探伤中一般把焊缝中的缺陷 分成三类:点状缺陷、线状缺陷、面状缺陷。
在分类中把长度小于10mm的缺陷叫做点状缺陷;一般不测长,小于10mm的缺陷按5mm计。把长度大于10mm的缺陷叫线状缺陷。把长度大于10mm高度大于3mm的缺陷叫面状缺陷。
26、超声波试块的作用是什么?
答:超声波试块的作用是校验仪器和探头的性能,确定探伤起始灵敏度,校准扫描线性。
27、什么是斜探头折射角β的正确值?
答:斜探头折射角的正确值称为K值,它等于斜探头λ射点至反射点的水平距离和相应深度的比值。
28、当局部无损探伤检查的焊缝中发现有不允许的缺陷时如何办?
答:应在缺陷的延长方向或可疑部位作补充射线探伤。补充检查后对焊缝质量仍然有怀疑对该焊缝应全部探伤。
29、超声波探伤仪中同步信号发生器的主要作用是什么?它主要控制哪二部分电路工作?
答:同步电路产生同步脉冲信号,用以触发仪器各部分电路同时协调工作,它主要控制同步发射和同步扫描二部分电路。
30、无损检测的目的?
答:1、改进制造工艺;2、降低制造成本;3、提高产品的可能性;4、保证设备的安全运行。
31.超探仪的作用及主要应用行业
超探仪是一种便携式工业无损探伤仪器,它能够快速便捷、无损伤、精确地进行工件内部多种缺陷(焊缝、裂纹、夹杂、折叠、气孔、砂眼等)的检测、定位、评估和诊断。既可以用于实验室,也可以用于工程现场。本仪器能够广泛地应用在制造业、钢铁冶金业、金属加工业、化工业等需要缺陷检测和质量控制的领域,也广泛应用于航空航天、铁路交通、锅炉压力容器等领域的在役安全检查与寿命评估。它是无损检测行业的必备仪器。
编号 |
应用行业 |
1 |
电力 |
2 |
锅炉与压力容器 |
3 |
机械 |
4 |
钢铁工业 |
5 |
钢结构 |
6 |
石油 |
7 |
化工 |
8 |
铁路 |
9 |
航天航空 |
10 |
船舶 |
11 |
管道 |
12 |
高校 |
13 |
永磁 |
14 |
科研院所 |
15 |
军工 |
16 |
陶瓷 |
32.有关超声波探伤的国家标准和行业标准 |
超声波探伤国家标准和行业标准有: 1、QB/T 无损检测术语 超声检测 2、JB/T 10061-1999 A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件 3、JJG 746-91 超声探伤仪 中华人民共和国国家计量检定规程 |
33.斜探头K值与角度的对应关系
NO. |
K值 |
对应角度 |
1 |
K1 |
对应45度 |
2 |
K1.5 |
对应56.3度 |
3 |
K2 |
对应63.4度 |
4 |
K2.5 |
对应68.2度 |
5 |
K3 |
对应71.6度 |
34. 焊缝探伤超声波探头的选择方案参考
编号 |
被测工件厚度 |
选择探头和斜率 |
选择探头和斜率 |
1 |
4—5mm |
6×6 K3 |
不锈钢:1.25MHz 铸铁:0.5—2.5 MHz 普通钢:5MHz |
2 |
6—8mm |
8×8 K3 |
|
3 |
9—10mm |
9×9 K3 |
|
4 |
11—12mm |
9×9 K2.5 |
|
5 |
13—16 mm |
9×9 K2 |
|
6 |
17—25 mm |
13×13 K2 |
|
7 |
26—30 mm |
13×13 K2.5 |
|
8 |
31—46 mm |
13×13 K1.5 |
|
9 |
47—120 mm |
13×13( K2—K1) |
|
10 |
121—400 mm |
18×18 ( K2—K1) 20×20 ( K2—K1) |
注:以上方案仅作参考,各企业可视具体情况稍作改动
35.探头型号表
注:下表所列探头型号仅供探伤时参考
产品名称 |
频率(MHZ) |
晶片面积(mm2) |
说明 |
直探头(硬保护膜) |
0.5~10 |
Φ8 Φ10 Φ14 Φ20 Φ24Φ30 |
|
直探头(软保护膜) |
0.5~5 |
Φ10 Φ14 Φ20 Φ24 |
|
双晶片直探头 |
2.5~5 |
10×12×2Φ14×2Φ20×2 |
F5 F10 F15 F20 F30 |
斜探头 |
1~5 |
9×9 8×8 10×12 Φ14 12×15 14×16 13×13Φ20 |
30o40o50oK1 K1.5 K2 K2.5 K3 |
斜探头 |
1~5 |
18×18 |
|
双晶片斜探头 |
2.5 5 |
8×8×2 10×12×2 |
K1 K2 K3 F10 F20 F30 |
表面波探头 |
2.5 5 |
9×9 10×12 13×13 |
HB-50 |
回波探头 |
|||
小角管探头 |
2.5 5 |
Φ14 Φ20 |
|
小角管探头 |
5 |
6×6 5×7 |
K1 K2 K2.5 K3 |
小角管探头 |
5 |
双晶曲面片 |
|
板波探头 |
1~5 |
20×20"left" width="176"> 入射角由用户定 |
|
爬波探头 |
1~5 |
||
薄波探头 |
5 |
可检测5MM以下薄板 |
|
可变角探头 |
2.5 5 |
10×10 |
角度可变范围0o~90o |
液浸式探头 |
1~5 |
Φ10 Φ12 Φ14 Φ20 |
|
充水探头 |
1~5 |
Φ14 Φ20 |
|
双晶充水探头 |
1~5 |
Φ14 Φ20 |
交距由用户定 |
液浸聚焦探头 |
1~5 |
Φ14 Φ20 |
点聚焦线聚焦 |
接触式聚焦直探头 |
2.5"top" align="left" width="229"> Φ14 Φ20 |
焦距10~60 |
|
接触式聚焦斜探头 |
2.5"top" align="left" width="229"> Φ14 Φ20 |
焦距10~60 |
|
常规测厚探头 |
1~5 |
||
小径管测厚探头 |
1~5 |
Φ8 |
|
中温测厚探头 |
1~5 |
上限300℃ |
|
高温测厚探头 |
1~5 |
上限500℃ |
|
深水探头 |
1~5 |
用于水下超声探伤 |
常用试验块
人们的耳朵能直接接收到的声波的频率范围通常是20Hz到20kHz,即音(声)频。频率低于20 Hz的称为次声波,高于20kHz的称为超声波。工业上常用数兆赫兹超声波来探伤。超声波频率高,则传播的直线性强,又易于在固体中传播,并且遇到两种不同介质形成的界面时易于反射,这样就可以用它来探伤。通常用超声波探头与待探工件表面良好的接触,探头则可有效地向工件发射超声波,并能接收(缺陷)界面反射来的超声波,同时转换成电信号,再传输给仪器进行处理超声波探伤仪。根据超声波在介质中传播的速度(常称声速)和传播的时间,就可知道缺陷的位置。当缺陷越大,反射面则越大,其反射的能量也就越大,故可根据反射能量的大小来查知各缺陷(当量)的大小。常用的探伤波形有纵波、横波、表面波等,前二者适用于探测内部缺陷,后者适宜于探测表面缺陷,但对表面的条件要求高。