中文名 | 水泥用X射线荧光分析仪 | 标准号 | JC/T 1085-2008 |
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实施日期 | 2008-12-01 | 发布日期 | 2008-06-16 |
技术归口 | 全国水泥标准化技术委员会 | 批准发布部门 | 国家发展和改革委员会 |
中国建筑材料科学研究总院、北京邦鑫伟业仪器公司。2100433B
刘玉兵、赵鹰立等。
仪器是较新型X射线荧光光谱仪,具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻...
优点:原装进口电制冷探测器,可以快速分析从11Na到92U之间的全部元素,精度高、测量时间短,它可以广泛用于有色矿山、钢铁、水泥、耐火材料、不锈钢、合金等领域特点:1. 同时分析元素周期表中由钠(Na...
X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由...
X 射线荧光分析仪在水泥生产中的应用 祝建清 ,吴松良 (浙江红火集团 江山虎球水泥有限公司 ,浙江 江山 324109) 中图分类号:TQ172.16 文献标识码:B 文章编号:1002-9877(2009)04-0050-04 我公司 于 2008 年 5 月份 引进一台 Venus200 X 射线荧光 分析仪,经过 5 个多月的使用和维护 ,建立 了生料、熟料、废铝土 、石 煤渣、石灰石和铜矿渣 6 条 工 作曲 线 ,能较 稳 定分析各种物料中的 SiO2、Al 2O3、 Fe2O3、CaO、MgO、K2O 和 Na2O 的含量,为生料配料和 2 样片的制备 在水泥行业的应用中 ,熔片法虽然能消除颗粒效 应及矿物效应 ,准确性较好 ,但因操作费时 、成本较高 而尚未被广泛采用 ;压片法则操作简单 、快速 ,是目前 国内水泥厂主要采用的 XRF 制样方法 。我公司采用 压片法 。 2
我公司使用的帕纳科公司AXIOS 2.4kW扫描型顺序式X射线荧光分析仪,采用硼酸衬底粉末压片法制样。使用不到4个月,因进样位置底部密封圈受污染引起测量室真空报警,只能停机维护。1原因分析1)与先前使用的飞利浦公司的PW1660固定道同时式X射线荧光分析仪相比,两台仪器X光管照射试样的方式不同,前者为上照射式,后者为下照射式,因而样品传送系统不同(见图1),在样片传送过
X射线荧光分析仪器分类
根据分光方式的不同,X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类,也 就是通常所说的能谱仪和波谱仪,缩写为EDXRF和WDXRF。
通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析,相应的仪器称之为能谱仪,通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散X射线荧光分析,相应的仪器称之为X射线荧光光谱仪。
根据激发方式的不同,X射线荧光分析仪可分为源激发和管激发两种:用放射性同位素源发出的X射线作为原级X射线的X荧光分析仪称为源激发仪器;用X射线发生器(又称X光管)产生原级X射线的X荧光分析仪称为管激发仪器。
就能量色散型仪器而言,根据选用探测器的不同,X射线荧光分析仪可分为半导体探测器和正比计数管两种主要类型。
根据分析能力的大小还可分为多元素分析仪器和个别元素分析仪器。这种称 呼多用于能量色散型仪器。
在波长色散型仪器中,根据可同时分析元素的多少可分为,单道扫描X荧光光谱仪、小型多道X荧光光谱仪和大型X荧光光谱仪。
1、在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出最具感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,
从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
3、当某些元素的电子由高等级向低等级跃迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由
此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。
4、逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素
的含量较高或者能量较高,其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。
5、在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。
分析原理 |
能量色散X射线荧光分析法 |
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分析元素 |
Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型) |
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Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型) |
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样品室气氛 |
大气 |
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X射线管 |
靶材 |
Rh |
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管电压 |
最大50KV |
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管电流 |
最大1mA |
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X射线照射径 |
1/3/5mm |
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防护 |
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检测器 |
硅SIPIN探测器 |
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光学图像观察 |
倍率15倍 |
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软件 |
定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移) |
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照射径:1/3/5mm |
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定量分析:基础参数法/标准法/1点校正 |
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计算机 |
CPU |
PentiumIV1.8GHz以上 |
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内存 |
256MB以上 |
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硬盘 |
20GB以上 |
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OS |
WindowXP |
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监视器 |
17寸LCD |
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周围温度 |
10~35C(性能温度)/5~40C(动作温度) |
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周围湿度 |
5~31C时温度范围:最大相对湿度80%以下 /31~40C时温度范围:相对湿度50%以下 |
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电源 |
AC110V/220V±10%、50/60HZ |
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消耗电力 |
1.3KVA以下(含计算机、LCD、打印机) |
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设备重量 |
约65kg(不含桌子、计算机) |
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外形寸法 |
600(W)×545(D)×435(H)mm |