扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy,STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描,通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。
中文名称 | 扫描透射电子显微镜 | 外文名称 | scanning transmission electron microscopy |
---|---|---|---|
类型 | 电子设备 | 用途 | 观察 |
电子显微镜的分类 1、透射电镜 (TEM) 样品必须制成电子能穿透的,厚度为100~2000 Å的薄膜。成像方式与光学生物显微镜相似,只是以电子透镜代替玻璃透镜。放大后的电子像在荧光屏上显示出来,TE...
电子显微镜是根据电子光学原理,用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜,使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。 电子显微镜的分辨能力以它所能分辨的相邻两点的最小间距来表示。20世纪70年代,透射...
顾名思义,所谓电子显微镜是以电子束为照明光源的显微镜。由于电子束在外部磁场或电场的作用下可以发生弯曲,形成类似于可见光通过玻璃时的折射现象,所以我们就可以利用这一物理效应制造出电子束的“透镜”,从而开...
本文通过比较高压系统常用气态绝缘介质的性能,对比影响气体绝缘性能的关键参数,给出了透射电子显微镜高压电源箱绝缘材料的优化选择,介绍了六氟化硫(SF6)气体在透射电子显微镜高压电源绝缘中的应用,计算了充SF6绝缘气体的高压电源箱,并给出了透射电子显微镜高压箱的绝缘充SF6气体工艺。
原子水平的表面特征传感器—扫描式隧道电子显微镜(STM)
目录
第一章 电子显微镜发展简史
第二章 电子光学基础
第三章 常用磁透镜的傍轴光学参数
第四章 磁透镜的象差
第五章 强激励透镜和非对称透镜
第六章 透镜磁路与线包的设计
第七章 电子枪
第八章 偏转系统
第九章 照明系统和成象系统
第十章 象的观察与记录
第十一章 成象理论初步
第十二章 改善分辨本领的努力
第十三章 分析电子显微镜
第十四章 扫描透射电子显微镜
第十五章 全息法
参考文献
附录 商品电子显微镜发展简史