能谱仪

探头:一般为Si(Li)锂硅半导体探头

探测面积:几平方毫米

分辨率(MnKa):~133eV

探测元素范围:Be4~U92

1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析;

2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定;

3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如:金属化膜表面镀层的检测;

4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域;

5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。

各种元素具有自己的X射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E，能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。

当X射线光子进入检测器后，在Si(Li)晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的(在低温下平均为3.8ev)，而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε，因此，入射X射线光子的能量越高，N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对，经过前置放大器转换成电流脉冲，电流脉冲的高度取决于N的大小。电流脉冲经过主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器，脉冲高度分析器按高度把脉冲分类进行计数，这样就可以描出一张X射线按能量大小分布的图谱。

1.低本底多道γ能谱仪硬件部分操作简单、使用方便，谱仪探头高压、放大器的放大倍数、ADC的上下阈值、零点等所有参数的设置均通过计算机程控完成，克服了手工调节的模糊性和可重复性差的缺点。达到了美国同类产品的水平。

2.低本底多道γ能谱仪产品所有配套软件均工作在WIN/98/Me/NT/2000/XP环境下，软件使用简单方便，所有操作均可通过鼠标完成。谱获取仿真控制软件可自动测量自动保存，建材专用谱分析软件使用时只需输入样品重量一个参数，系统即可自动计算出样品中226Ra、232Th、40K等核素的比活度及内照射系数Ira和外照射系数Iγ，并打印出核素分析报告，用户可由此判断建筑主体材料的使用范围及装修材料的装等级。

3.低本底多道γ能谱仪空气中氡浓度计算软件自动对环境湿度氡衰变进行修正，分析计算时用户只要输入基本的采集测量参数，可自动计算出空气中的氡浓度(Bq/m3)。

4.低本底多道γ能谱仪无损检测采用专用软件，操作简单方便，系统可直接给出样品中226Ra、232Th、40K等核素的比活度及内照射系数Ira和外照射系数Iγ，并打印出核素分析报告，用户可由此简单分析建筑主体材料的使用范围及装修材料的等级。