内孔比长仪

采用数显测微仪和旁向电感测量头，以块规为基准的比较测量方法来进行测量孔径的相对偏差。

内孔比长仪是测量圆柱体工件高精度孔径的精密量仪，可以测量孔的内径,锥度和椭圆度。

用于精确测量孔的内径,锥度和椭圆度。

1、孔径测量范围：Φ8～Φ250

2、被测孔的深度：43mm

3、旁向测头测量力：100～150mN

4、数显测微仪：

显示范围：±100μm

分辨力：0.1μm

示值变动性： 0.2μm

5、工作台调整范围：前后10mm，上下1mm，倾斜±20'

6、重复测量误差：0.5μm/3次

7、长时间稳定性： 0.5μm/4h（开机后预热15分钟）

8、电源电压变化示值差：0.1μm/220伏±10%

9、综合测量精度： ±（0.5 D/100）μm

10、仪器轮廓尺寸（长×宽×高）： 570 ×450×800mm

11、重量： 200kg

1、 将比长仪放在工作台上，将标准杆放入比长仪上下测头球面孔内，松开上测头锁紧螺母、调整上测头与百分表使刻度盘上“0”位于百分表指针对齐后，将上测头锁紧螺母拧紧。

2、 将被测试体擦净，一端钉头放入比长仪下测头球面孔内，另一端钉头轻轻放入比长仪上测头的球面孔内。

3、 左右旋转被测体，使试体与比长仪下测头良好接触。检查比长仪上下测头球面孔内是否有砂粒等脏物。

4、 测量试体读数时，首先读表盘内小表针所指示的数值，然后再读大表针所指示的数值。

5、 比长仪是一种精密的测量仪器，在使用过程中一定要轻拿轻放，保持整洁。

比长仪是以不接触光学定位方法瞄准被测长度，主要用于测量线纹距离的精密长度测量工具。

比长仪一般采用测量显微镜或光电显微镜作为瞄准定位部件，并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，与被测长度比较而确定量值。比长仪主要用于检定线纹尺，测量分划板上的线距和物理、天文类照相底片上的光波谱线距离，也可用于测量孔径。

释文：在钻孔内放炸药爆破,以增加裂隙的数量和密度,增大水、油、气等向钻孔的运移速度,这是在裂隙性岩石中增大钻孔流量的一种方法。