粒度是矿粒(或矿块)大小的量度。通常用“粒子的直径”来表示。在选矿中,由于单个矿粒是不规则的,而一群矿粒中的各个粒子大小也不同,习惯上用平均直径表示它的粒度大小。
由于实际颗粒形状复杂,用来表示粒度的方法很多,最常见的为各种当量直径φ,如和颗粒体积相同的球的直径称为等体积球当量径,和颗粒投影面积或周长相等的圆的直径分别称为投影圆当量径或等周长圆当量径,平行于一定方向测得的一维尺寸称为定向径,包括费雷特(Feret)径、马丁(Martin)径和定向最大径等。
粒级是物料颗粒的粒度范围,以粒度范围的上下限表示。例如,50~25mm粒级,表示其粒级上限为50mm,下限为25mm。粒级上限为给定粒级中最大的粒度。粒级下限为给定粒级中最小粒度。中国煤炭筛分试验和商品煤的粒级划分见 《煤炭筛分试验方法》GB477和 《煤炭粒度分级》GB189等。
分布中的较高的那个分布1%,因为这是把分布精确地分成二等份的点。最频值将位于最高曲线顶部对应的粒径。由此可见,平均值、中值和最频值有时是相同的,有时是不同的,这取决于样品的粒度分布的形态。
() D[4,3]是体积或质量动量平均值。
()D[V,0.5]是体积(v)中值直径,有时表示为D50或D0.5 D[3,2]是表面积动量平均值。
在粉体粒度的测定中,采用各式各样的平均粒径,来定量地表达颗粒群的粒度大小。
设颗粒群粒径分别为d1,d2,d3,……di……dn;相对的颗粒个数为n1,n2,n3,……ni……nn;相对应的颗粒质量为w1,w2,w3,……wi……wn。
将以颗粒个数为基准和质量为基准的平均粒径计算公式归纳于下表。
粉体是由n个粒径不同的颗粒所组成的群体。因而常用平均粒径及粒径分布来表示粒度。常见的有四种加权平均粒径。它们是算术平均粒径D1=∑nd/n;长度平均粒径D2=∑(nd2)/∑(nd);面积平均粒径D3=∑(nd3)/∑(nd2)和体积平均粒径D4=∑(nd4)/∑(nd3)。
粒度组成的分析结果以粒度组成分布曲线和粒度组成累积分布曲线表示,(如下图)。各种颗粒的直径d是把颗粒看作球体时的等效直径。分布曲线的纵坐标颗粒直径d有从小到大和从大到小两种表示方法。
奥氏体;是a/r界面向内、Fe3C/r界面向Fe3C内移动的过程。由长大速度决定,铁素体总是先消失。当残余Fe3C全部溶...
中文名称:晶粒度英文名称:grain size其他名称:晶粒尺寸定义:多晶体内的晶粒大小。所属学科: 机械工程(一级学科) ;机械工程(2)_热处理(二级学科) ;机械工程(2)一般热处理名词(三级学...
测试报告说明:1. 测试报告由6部分组成:表头、样品信息及测试信息、分析结果、图形、数据表、表尾。2. 量程:即测试范围,在软件的数据模板中选定。3. 分散介质:用于分散被测样品的介质。被测物质与分散...
激光粒度分析的测量原理是单色性的激光和颗粒体对激光的衍射 (或散射) 作用。激光通路上的分散颗粒体使激光产生衍射,衍射光在光路垂直平面上形成明暗相间的同心衍射光环,即衍射图。各光环的能量与颗粒的粒度分布相关,检测各环的激光能量,即可计算出颗粒体系的粒度分布。
激光粒度分析仪主要由激光器、试样系统、光路系统、检测器和数据处理显示输出系统5部分组成 (如下图所示)。
被测试样送入仪器后,数分钟内便可输出全部统计分析数据,如粒度分布、平均粒径和比表面积等。选用不同的试样系统,可广泛用于气体、液体和固体颗粒体系的粒度分析。
激光粒度分析仪具有自动化程度高、速度快、重现性好、使用方便等优点,是现代粒度分析首选的分析仪表。
筛析是粒度分析的一种常用方法。利用孔径大小不等而且按顺序排列的一套筛子,使直径不同的颗粒分别集中,从而得到分析样品各粒级组分的含量数据。为保证筛析的精度,套筛的孔径要均匀、准确。筛孔间距最好为1/2 φ或1/4φ。筛析方法设备简单,易于操作,适于做大量分析。但它只适用于松散的和弱胶结的岩石,对于固结紧密难于松散或无法松散的砂岩不能应用这一方法。
根据不同粒径的颗粒在液体中的沉降速度不同测量粒度分布的一种方法。它的基本过程是把样品放到某种液体中制成一定浓度的悬浮液,悬浮液中的颗粒在重力或离心力作用下将发生沉降。大颗粒的沉降速度较快,小颗粒的沉降速度较慢。斯托克斯Stokes 定律是沉降法粒度测试的基本理论依据。
用显微镜直接测定颗粒尺寸和形状,用于检查选别产品或校正水析结果以及研究矿石的结构构造的方法。适于分析微细物料,最佳测量范围为0.5~20微米之间。
超声波发生端(RF Generator) 发出一定频率和强度的超声波,经过测试区域,到达信号接收端(RF Detector)。当颗粒通过测试区域时,由于不同大小的颗粒对声波的吸收程度不同,在接收端上得到的声波的衰减程度也就不一样,根据颗粒大小同超声波强度衰减之间的关系,得到颗粒的粒度分布,同时还可测得体系的固含量。2100433B
针对工业生产中粘土材料受温度影响后变形的问题,采用界限含水率试验、 颗粒分析试验、 无侧限抗压强度试验,测定不同温度下粘土的液塑限、 粒度组成、 抗压强度.结果表明:粘土的液、 塑限随温度的升高而增加,随温度的升高,土体抗压强度先增加后减小.
不定形耐火材料粒度组成控制
水力分析(简称水析)是借测定颗粒的沉降速度间接测量颗粒粒度组成的方法。
常用水析方法:重力沉降法、上升水流法和离心沉降法。
测定对象:小于0.1mm的物料。
测定条件:在自由沉降条件下进行,悬浮液的固体容积浓度小于3%。
防止颗粒团聚,通常加入0.01-0.02%水玻璃等分散剂。
沉降水析法
沉降法中比较简单而又可靠的方法是淘析法。淘析法的基本原理是利用逐步缩短沉降时间的方法,由细至粗、逐步地将各粒级物料淘析出来。
淘析法水析装置也称巴宁沉降分析仪,如图2-1所示。
巴宁沉降分析仪
步骤:
(1) 算出粒度为 d 的矿粒在水中沉降 h 所用时间 t ;
(2)将矿浆倒入杯中,(矿浆液固比 6:1 ),加清水至零刻度,搅拌。(容积浓度 < 3% )。
(3)静置,沉降,经 t 时段,用虹吸管将 h 上部的矿浆全部吸出(小于分级粒度) ;
(4)杯中补加清水,重复上述步骤,直至吸出液体中不含小于分级粒度的矿粒为止;
(5)烘干,称重,化验。
特点:
简单、可靠,但费时、费工。
上升水流法
原理
利用相同的上升水量,在不同直径的分级管中,产生不同的上升水速,粒度不同的矿粒按其不同沉降速度,分成若干粒级。
装置
如图所示为一组四管水析器,该水析器除主要工作部件分级管外,还有给水装置、水玻璃添加装置、给矿装置和溢流接收装置等 。
连续水析器:
分级管直径
由给水量和分级粒度确定。如分级管断面积为A,给水量为Q,分级管的内径为D,则存在如下关系:
式中 D一分级管直径。
在每个分级管中,沉降速度v0大于管内上升水流速度 va的颗粒便沉降下来,小于va的颗粒便进入下一个分级管内依次进行分级。在每个分级管内保持悬浮的颗粒即是该次分级的临界粒度。
每次水析的试料约为50g,装入带搅拌器的玻璃杯内,给矿前各分级管及连续管内均充满水,打开管夹使矿浆流人各分级管内。在一般情况下给料时间约1.5h,2h后停止搅拌,大约6h后停止给水(以溢流水是否清澈为准)。然后用夹子夹住各分级管下端的软胶管,按粗细顺序将各粒级产物清洗排出,进行澄清、过滤、烘干、称重、化验等一系列处理。
这种连续水析器一次可获得多级产品,操作简便,只要保持工作正常(及时放出管内气泡且不使矿粒堵塞胶管),所得结果就较为准确,但水析时间较长。
离心沉降法
原理:使分级过程在离心力场中进行。旋流水析器内颗粒的径向沉降速度依然可按斯托克斯公式求出,仅需用离心加速度取代重力加速度。
离心沉降法所用装置:串联旋流分级器,也称旋流水析器,结构如图所示。它是由倒置(底流口垂直向上)水力旋流器互相串联并平行排列所组成的。
图 旋流水析仪的工作系统
旋流水析法是在离心力场中对细粒级(-0.074mm)物料进行水力分析的方法,其分析过程在5个串联的水力旋流器中进行,水力旋流器的沉砂口垂直朝上,溢流口朝下,前一个旋流器的溢流管是下一个旋流器的给矿管,旋流器的沉砂口与装有排矿阀门的容器连接。进行水析操作时,排矿阀门处于关闭状态。
采用旋流水析法对物料进行粒度分析时,一次给矿量在1000g左右。纷矿用水调成矿浆,使矿粒充分松散,矿浆量通常小于150mL。将矿浆给人给矿容器中,充满水,并装在管路上,然后关闭阀门,启动水泵,将流量阀门开到最大位置。当水流流过各旋流器后,从1号旋流器开始,通过底流阀逐个排出旋流器中的空气及杂物,再将底流阀关闭。打开给矿容器阀门,使给矿在5min之内进入旋流器。调整水流流量,使转子流量计的读数由大变小,直至所要求的值。记录时间,在30min之内完成水析过程。水析完毕时,将流量调至最大值。从5号旋流器开始,逐个卸下底流容器中的分级产物,然后关闭水泵。将所得各个产物烘干、计量,计算各粒级产率。
矿浆和颗粒在水力旋流器中的运动状态如图5-2-3所示,矿浆沿切向给人旋流器后,以很高的速度旋转运动,在后续不断给人的矿浆的推动下,矿浆进人顶部容器,固体颗粒在该容器中受到强烈扰动并趋向于返回锥体部分。 颗粒在返回过程中,同样处于高速旋转运动状态,所以受旋流器中的运动状态到离心惯性力的作用,对于大于分离粒度的颗粒,受到的离心惯性力大,又进人到旋转着向上流动的流层中,返回到顶部容器,小于分离粒度的颗粒受到的离心惯性力小,处于中部旋转着向下流动的流层,最后从下部的溢流管排出,进人下一个旋流器中。
图 矿浆和颗粒在水力旋流器中的运动状态
粒度级 cut
分级后介于两种名义粒度界限内的粉末部分。2100433B
granulometer;grainsize analyzer研究细粒物料(<37~40μ)粒度组成所用的仪器。
如图像分析仪、光衍射仪、粒度分析仪及小角度光散射仪等。