静电击穿

在强电场中,随着电场强的增强,电荷不断积累,当达到一定程度时,电介质会失去极化特征而成为导体,最后产生介质的热损坏现象,这种现象称为电介质的击穿。

静电击穿基本信息

中文名称 静电击穿 外文名称 Electrostatic breakdown

静电击穿造价信息

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材料名称 规格/型号 市场价
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13% 江西省士林电气实业有限公司
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13% 东莞市长安圣辉金属材料经营部
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行情 品牌 单位 税率 地区/时间
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智能电击型高压驱鸟器 110KV线路适用|10套 3 查看价格 长春市鲜中热缩材料有限公司 全国   2019-09-03

静电击穿常见问题

  • 高压电瓷容易穿有哪些原因造成的?

    高盐雾地区的盐雾在电瓷上积蓄、高污染地区污染物在电瓷上积蓄、高寒地区的水分在电瓷上的凝结、大幅度雾霾天气等,都会在电瓷表面形成闪络通道,当电弧发生后,就很容易造成电瓷被击穿。

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  • 击穿保险的作用

    电压互感器低压侧装设JBO型击穿保险接地,主要是防止高电压穿入二次回路造成二次回路电压升高,危及二次设备,通过击穿保险接地,可以有效防止这种情况的发生(数百伏电压可击穿),正常工作时,击穿保险又保证与...

静电击穿文献

电击强光手电制作 电击强光手电制作

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强光电击手电筒价格大全 强光电击手电筒价格大全

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1 / 3 如今,越来越多的客户购买了我司的电击强光电筒,但是没有一个正确的 使用方法。在这里和大家简单的介绍一下具体的功能配置以及使用方法。 电击强光电筒的电源电压在 4.8- 6.0V之间,具有双高压包,输出的电压有 200KV,功率达到电击电压 600 万付以上,所以使用时要特别注意。用户在使用前,需采用产品配置的内置充 电器进行充电。充满电后,将尾部的总电源开关置于开 (ON)档,此时绿色电源 指示灯亮,按动红色电击按钮,即可使用电击。使用照明和报警功能时,不可 使用电击功能。 需要特别注意的是: 1.遇险时,应电击歹徒四肢为宜。若歹徒失去反抗能力,应停止电击,严禁 电击人体头部、心脏等重要脏器部位。 2.充电过程中不要使用电击功能 ;充电时间应在 5-10小时左右,否则将缩短 电池寿命,损坏电池。 3.电击强光电筒存放一个月,应检查以及充电,超过一个月的长期存放,应 放在干燥通

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其实MOS管一个ESD敏感器件,它本身的输入电阻很高,而栅-源极间电容又非常小,所以极易受外界电磁场或静电的感应而带电,又因在静电较强的场合难于泄放电荷,容易引起静电击穿。

静电击穿有两种方式:

一是电压型,即栅极的薄氧化层发生击穿,形成针孔,使栅极和源极间短路,或者使栅极和漏极间短路;

二是功率型,即金属化薄膜铝条被熔断,造成栅极开路或者是源极开路。

现在的mos管没有那么容易被击穿,尤其是是大功率的vmos,主要是不少都有二极管保护。vmos栅极电容大,感应不出高压。若是碰上3DO型的mos管冬天不带防静电环试试,基本上摸一个挂一个。

与干燥的北方不同,南方潮湿不易产生静电。还有就是现在大多数CMOS器件内部已经增加了IO口保护。但用手直接接触CMOS器件管脚不是好习惯。至少使管脚可焊性变差。

静电放电形成的是短时大电流,放电脉冲的时间常数远小于器件散热的时间常数。因此,当静电放电电流通过面积很小的pn结或肖特基结时,将产生很大的瞬间功率密度,形成局部过热,有可能使局部结温达到甚至超过材料的本征温度(如硅的熔点1415℃),使结区局部或多处熔化导致pn结短路,器件彻底失效。这种失效的发生与否,主要取决于器件内部区域的功率密度,功率密度越小,说明器件越不易受到损伤。

反偏pn结比正偏pn结更容易发生热致失效,在反偏条件下使结损坏所需要的能量只有正偏条件下的十分之一左右。这是因为反偏时,大部分功率消耗在结区中心,而正偏时,则多消耗在结区外的体电阻上。对于双极器件,通常发射结的面积比其它结的面积都小,而且结面也比其它结更靠近表面,所以常常观察到的是发射结的退化。此外,击穿电压高于100V或漏电流小于1nA的pn结(如JFET的栅结),比类似尺寸的常规pn结对静电放电更加敏感。

所有的东西是相对的,不是绝对的,MOS管只是相对其它的器件要敏感些,ESD有一个很大的特点就是随机性,并不是没有碰到MOS管都能够把它击穿。另外,就算是产生ESD,也不一定会把管子击穿。静电的基本物理特征为:(1)有吸引或排斥的力量;(2)有电场存在,与大地有电位差;(3)会产生放电电流。这三种情形即ESD一般会对电子元件造成以下三种情形的影响:(1)元件吸附灰尘,改变线路间的阻抗,影响元件的功能和寿命;(2)因电场或电流破坏元件绝缘层和导体,使元件不能工作(完全破坏);(3)因瞬间的电场软击穿或电流产生过热,使元件受伤,虽然仍能工作,但是寿命受损。所以ESD对MOS管的损坏可能是一,三两种情况,并不一定每次都是第二种情况。上述这三种情况中,如果元件完全破坏,必能在生产及品质测试中被察觉而排除,影响较少。如果元件轻微受损,在正常测试中不易被发现,在这种情形下,常会因经过多次加工,甚至已在使用时,才被发现破坏,不但检查不易,而且损失亦难以预测。静电对电子元件产生的危害不亚于严重火灾和爆炸事故的损失。

电子元件及产品在什么情况下会遭受静电破坏?可以这么说:电子产品从生产到使用的全过程都遭受静电破坏的威胁。从器件制造到插件装焊、整机装联、包装运输直至产品应用,都在静电的威胁之下。在整个电子产品生产过程中,每一个阶段中的每一个小步骤,静电敏感元件都可能遭受静电的影响或受到破坏,而实际上最主要而又容易疏忽的一点却是在元件的传送与运输的过程。在这个过程中,运输因移动容易暴露在外界电场(如经过高压设备附近、工人移动频繁、车辆迅速移动等)产生静电而受到破坏,所以传送与运输过程需要特别注意,以减少损失,避免无所谓的纠纷。防护的话加齐纳稳压管保护。

现在的mos管没有那么容易被击穿,尤其是是大功率的vmos,主要是不少都有二极管保护。vmos栅极电容大,感应不出高压。与干燥的北方不同,南方潮湿不易产生静电。还有就是现在大多数CMOS器件内部已经增加了IO口保护。但用手直接接触CMOS器件管脚不是好习惯。至少使管脚可焊性变差。

MOS管被击穿的原因及解决方案

第一、MOS管本身的输入电阻很高,而栅源极间电容又非常小,所以极易受外界电磁场或静电的感应而带电,而少量电荷就可在极间电容上形成相当高的电压 (U=Q/C),将管子损坏。虽然MOS输入端有抗静电的保护措施,但仍需小心对待,在存储和运输中最好用金属容器或者导电材料包装,不要放在易产生静电高压的化工材料或化纤织物中。组装、调试时,工具、仪表、工作台等均应良好接地。要防止操作人员的静电干扰造成的损坏,如不宜穿尼龙、化纤衣服,手或工具在接触集成块前最好先接一下地。对器件引线矫直弯曲或人工焊接时,使用的设备必须良好接地。

第二、MOS电路输入端的保护二极管,其通时电流容限一般为1mA,在可能出现过大瞬态输入电流(超过10mA)时,应串接输入保护电阻。因此应用时可选择一个内部有保护电阻的MOS管应。还有 由于保护电路吸收的瞬间能量有限,太大的瞬间信号和过高的静电电压将使保护电路失去作用。所以焊接时电烙铁必须可靠接地,以防漏电击穿器件输入端,一般使用时,可断电后利用电烙铁的余热进行焊接,并先焊其接地管脚。

MOS是电压驱动元件,对电压很敏感,悬空的G很容易接受外部干扰使MOS导通,外部干扰信号对G-S结电容充电,这个微小的电荷可以储存很长时间。在试验中G悬空很危险,很多就因为这样爆管,G接个下拉电阻对地,旁路干扰信号就不会直通了,一般可以10~20K。这个电阻称为栅极电阻,作用1:为场效应管提供偏置电压;作用2:起到泻放电阻的作用(保护栅极G~源极S)。第一个作用好理解,这里解释一下第二个作用的原理:保护栅极G~源极S:场效应管的G-S极间的电阻值是很大的,这样只要有少量的静电就能使他的G-S极间的等效电容两端产生很高的电压,如果不及时把这些少量的静电泻放掉,他两端的高压就有可能使场效应管产生误动作,甚至有可能击穿其G-S极;这时栅极与源极之间加的电阻就能把上述的静电泻放掉,从而起到了保护场效应管的作用。

特别推荐

1、防止静电击穿

静电是相对于另一表面或相对于地的一物体表丽上电子的过剩或不足。过剩电子的表面带有负电,电子不足的表面带有正电。静电一般由磨擦或感应产生。电力MOSFET的最大优点是具有极高的输入阻抗,因此在静电较强的场合难于泄放电荷,容易引起静电击穿。静电击穿有两种形式:一是电压型,即栅极的薄氧化层发生击穿而形成针孔,使栅极和源极间短路,或者使栅极和漏极间短路;二是功率型,即金属化薄膜铝条被熔断,造成栅极开路或者是源极开路。造成静电击穿的电荷源可能是器件本身,也可能是与之接触的外部带电物体,或带电人体。在干燥环境中,活动的人体电位可达数千伏甚至上万伏,所以人体是引起电力MOSFET静电击穿的主要电荷源之一。引起电力MOSFET静电击穿所需的静电电压为1000v或更高些(取决于芯片太小)。对于带电的电力MOSFET,当它与周围物体的几何位置发生相应变化,这会使器件电压升高,从而造成器件损坏。有时,如带电荷的器件与地短接,则放电瞬间会造成器件损坏。在电场中,由于静电感应电力MOSFET将产生感应电场,故当器件处于强电场中时.会发生栅极绝缘体击穿。

防止静电击穿时应注意:(1)在MOSFET测试和接人电路之前,应存放在静电包装袋、导电材料或金属容器中,不能放在塑料盒或塑料袋中。取用时应拿管壳部分而不是引线部分。工作人员需通过腕带良好接地。(2)将MOSFET接入电路时,工作台和烙铁都必须良好接地,焊接时电烙铁功率应不超过25W,最好是用内热式烙铁。先焊栅极,后焊漏极与源极。(3)在测试MOSFET时,测量仪器和工作台都必须良好接地,并尽量减少相同仪器的使用次数和使用时间,从而尽快作业。MOsFET的三个电极未全部接入测试仪器或电路前.不要施加电压。改换测试范围时,电压和电流都必须先恢复到零。(4)注意栅极电压不要过限。有些型号的电力MOSFET内部输入端接有齐纳保护二极管,这种器件栅源间的反向电压不得超过0.3V,对于内部未设齐纳保护:极管的器件,应在栅源同外接齐纳保护二极管或外接其他保护电路。(5)使用MOSFET时,尽最不穿易产生静电荷的服装(如尼龙服装)。(6)在操作现场,要尽量回避易带电的绝缘体(特别是化学纤维和靼料易带电)和使用导电性物质。例如:导电性底板、空气离子化增压器等,并避免操作现场放置易产生静电的物质,保证操作现场湿度适当。当湿度过高时,可采取加温措施,正确的操作现场防静电措施。

2、防止偶然性振荡损坏器件

电力MOSFET在与测试仪器、接插盒等仪器的输入电容、输入电阻匹配不当时,可能出现偶然性振荡,造成器件损坏。因此,在用图示仪等仪器测试时,在器件的栅极端子处接lOkfl串联电阻,也可在栅源问外接约0.5妒的电容器。

(1)场效应晶体管互导大小与工作区有关,电压越低则越高。

(2)结型场效应晶体管的豫、漏极可以互换使用。

(3)绝缘栅型场效应晶体管.在栅极开路时极易受周围磁场作用,会产生瞬问高电压使栅极击穿。故在存放时,应将三个引脚短路,防止静电感应电荷击穿绝缘栅。

(4)工作点的选择,应不得超过额定漏源电压、栅源电压、耗散功率及最大电流所允许的数值。

(5)测试绝缘栅场效应晶体管时,测试仪器应良好接地,以免击穿栅极。

(6)需采取防潮措施,防止由于输入阻抗下降造成场效应晶体管性能恶化 。2100433B

防静电功能:主要是防止精密芯片焊接被静电击穿。

休眠功能:节能,延长烙铁头寿命。

数码显示温度:方便调节。

密码锁定温度:防止工人随便更改温度设置。

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