光学表面检测系统主要功能

可以满足大口径波前校正器镜面微小瑕疵的在线检测的需求。

TEO8060适用最大产品尺寸范围680mm*640mm*100mm。TEO8060平台尺寸： 810*810mm。TEO8060平台高度一致性：5um@100mm*100mm。TEO8060扫描机构平整度：5um@100mm*100mm。TEO8060具有自动Z轴测量功能辅助工件安装平面的调整，测量精度：优于±3um。TEO8060完成600mm*600mm自动面阵检测时间≤1.7小时。（相机行频30K，扫描精度1um，视野3mm，算法 机械运动时间0.5倍，检测时间=(X检测范围/行频)*(Y检测范围/视野)*倍=(600,000/30,000) * (600 / 3) * 1.5=6000秒≈1.67小时）。

光轴是光学系统中，一条假想的线，定义（在一次近似下）光学系统如何传导光线。光线若和光轴重合，在光学系统中光将沿光轴传递。

若此光学系统有一定程度的转动对称（像相机镜头或是显微镜），光轴一般会是光学系统的旋转中心，若光学系统是由简单的透镜和反射镜组成，光轴会通过各平面的曲率中心（如焦点），和转动对称轴重合。光轴一般会和系统的机械中心重合，但也有例外，例如离轴光学系统。

若光线和光轴角度很小，而光线接近光学系统的轴，可以用几何光学中的近轴近似来处理，可以简化数学的运算。

在光纤中，光轴会和纤维芯重合，也称为光纤轴。

直接在光(电)接收器(如望远镜、显微镜、照相机、CCD摄像机等)上形成目标图像。扫描成像光学系统采用单元或多元小阵列光电探测器,其扫描机制决定了其系统组成复杂,体积、质量较大.应用受到一定限制。但采用扫描技术，能使系统的最终分辨率提高。凝视成像光学系统的结构组成相对简单，体积、质量相对较小，分辨率取决于光(电)接收器单元尺寸大小和光学系统成像质量。

光学跟踪测量系统是武器靶场试验和航天发射中使用的一种跟踪测量系统。它利用光学测量和成象原理，测量、记录目标的运动轨迹、姿态、运动中发生的 事件，以及目标的红外辐射和视觉（可见光）特征。光学跟踪测量设备通常由摄影机、跟踪或监视设备和数据处 理设备组成。多台设备通过适当组合，构成光学跟踪测量系统。光学跟踪测量系统主要分为三类。

光学跟踪弹道测量设备

用来获取被测目标在空间随时间变化的位置、速度和加速度等数据，是对航天器、武器系统进行鉴定的改进设计，以及编制武器射表的重要依据，所用设备主要有电影经纬仪、弹照相机和固定摄影机。

光学跟踪姿态和事件测量设备

主要有跟踪望远镜和高速摄影机，用来获取目标的飞行姿态和事件数据，如目标的滚动，俯仰和偏航， 以及发射时间、遭遇时间和脱靶量。

光学跟踪目标特征测量设备

用于对目标红外信号特征和可见光信号特征进行测 量。60年代以来激光、红外、电视等光电新技术和电子计算机的发展，为靶场跟踪测量提供了新手段，出现激光 雷达、电视跟踪测量设备和激光-电影经纬仪复合设备等新一代光学跟踪测量设备。这些设备保持了传统光学 跟踪测量设备测量精度高、目标影象直观和设备机动性好等优点，克服了传统光测设备需多台同时工作、数据 处理周期长的缺点，实现了单站实时测量。例如激光雷达根据激光束的方位角、俯仰角和激光测距，可确定目 标的空间位置，由距离随时间变化求得速度，由速度变化求得加速度，测量精度高。电视自动跟踪系统利用目标 与背景或周围物体的比较跟踪数据。光学跟踪测量系统的发展趋势是进一步提高激光雷达的作用距离，应用图 象识别和处理技术提高光学跟踪测量设备的捕获跟踪能力、测量精度，利用计算机技术提高光学跟踪测量系统 自动化程度，更好发挥系统的综合效能。