光密度值

镀铝薄膜光密度与铝层厚度对照

光密度法 光密度(OD)定义为材料遮光能力的表征。它用透光镜测量。光密度没有量纲单位，是一个对数值，通常仅对镀铝薄膜和珠光膜进行光密度测量。

光密度是入射光与透射光比值的对数或者说是光线透过率倒数的对数。计算公式为

OD=log10(入射光/透射光)或OD=log10(1/透光率)

通常镀铝膜的光密度值为1-3(即光线透过率为10%-0.1%)，数值越大镀铝层越厚，美国国家标准局的ANSI/NAPM IT2.19对试验条件做了详细规定。

OD值、方阻值和铝层厚度对照表

分光密度仪目前主要是使用在制版业和各类印刷使用，帮助实施从印前至车间的综合性色彩控制 。

分光密度仪工作原理:人眼可见的光只占电磁波谱的很小-部分(400~760nm)

它是一种频率较大的电磁波。电磁波按频率大小，从频率最小的无线电波到频率最大的γ-射线排成一列，即组成电磁波的波谱。

采用比较入射光的光度、强度之间的差别，使用45度/0度光谱感应。具有自动选择功能，在工作时无须转换功能即可将测量数据显示出来，方便第一时间得知印刷生产情况。

分光密度仪的定义:分光光度法是利用物质所特有的吸收光谱来鉴别物质或测定其含量的分析检测技术。 其广泛应用于糖，蛋白质，核酸，酶等的快速定量检测。

分光密度仪由5个基本单元组成: 光源，单色器，吸收池，检测器和测量仪表。

揉合了这四项基本原则:

1.简单便捷

2.准确度高

3.坚固耐用

4.配合人体工程学的设计

SpectroDens按功能备有三个型号:

[BASIC]提供必备的密度测量功能;

[ADVANCED]则加上色彩学及颜色数据库;

[PREMIUM]作为旗舰型号除含有上述功能外，还配备更专业及全面的色彩学功能。

SpectroDens Basic

自动化测量

CMYK四色密度

网点面积，网点增大

灰平衡，四色平衡

叠色(根据PREUCIL标准)

印刷反差

SpectroDens Avanced

除[BASIC]功能外，更加上:

专色的色谱密度

印刷特性曲线

重影/变形

网点面积(根据Yule-Nielsen 标准)

叠色(根据BRUNNER及RITZ标准)

色谱密度

CIE Lab，△Eab，XYZ，色彩图

量度色谱

颜色数据库

SpectroDens Premium

除[ADVANCED]功能外，更加上:

CIE L Chab，xyY ,Luv,LCHuv,DIN Lab99

△ E94, △E2000, △E99, △Ecmc, △Euv

Metamery指数

白色度，黄色度

及格/不及格宽容度，平均值

量度色彩新里程

多才多艺的色谱密度仪

今时今日，采用测量仪器作为品质管理已是非常普遍的手段。SpectroDens是当今最先进、最多才多艺的色彩密度仪之一;SpectroDens的各型号可应付色彩实验室、印前的打样、印刷监控及品质抽样的需要。通过不同的功能选择，SpecrroDens 能为用家的不同需要提供服务。

二合为一

单从SpectroDens 这型号名称就反映出它的多样性--既有色谱光度计的精确，又如密度计的易用。SpecrroDens采用光谱分析的测量方法，然后将数据化作描述性分析及显示的需要。

①密度性数据

多用于印刷过程中品质管理上

②色彩性数据

多用于打样、色彩管理及调校专色墨的工作上。

密度

不论量度实地密度，网点增大，网点面积，灰平衡或印刷反差等需要，一按即成;在自动测量模式下，所有有关资讯都马上呈现，即使特性曲线都可以又快又轻易的描画出来。

由于采用了测量光谱的技术去计算CMYK四色密度，所以在量度专色的时候更可靠准确。

色彩学

所有标准化的色彩功能包括完整的L*a*b*色彩圈都可清楚呈现在特大的LCD显示屏，专色参考色标及颜色数据库的色彩数据都可储存备用。

标准化测量

SpectroDens的运作完全根据印刷制版业界的标准而设计，针对不同的测量准则，提供相应的滤镜设定。好像以偏光滤色镜为例，只要按一下就可选择启动/关闭。

周详的软件配套

SpectroDens Connect软件采用USB线将测量所得数据传送往PC;该等数据可应用于[微软]EXCEL或同类软件上，而颜色数据库更是易用，甚至整个数码专色参考色标都可以传至SpectroDens上。SpectroDens Connect 软件更可作为与其它应用软件开发者沟通之用，好像[印刷特性曲线]软件或[色彩学品质监控]软件等。

测量技术:

根据ISO5-3/4国际标准订定量度色谱及颜色密度标准

标准配置:

测量设备

充电板附带纯白标准白块

防振携带箱

USB电缆

软件CD

ISO9000认证及说明书

选配件:

1.5x1.5mm测量头， 2.5x1mm测量头