硅片测试仪(HS-NCS-300型)可以测量硅片厚度总厚度变化 TTV 、弯曲度, 该仪器适用于 Si , Ga,As , InP Ge 等几乎所有的材料,所有的设计都符合 ASTM( 美国材料实验协会 ) 和 Semi 标准,确保与其他工艺仪器的兼容与统一。
■ 无接触测量
■ 适用的晶圆材料包括Si,GaAs,InP,Ge等几乎所有的材料
■ 厚度和 TTV 测量采用无接触电容法探头
■ 高分辨率液晶屏显示厚度和 TTV 值
■ 性价比高
■ 菜单式快速方便设置
■ 高分辨率液晶 LCD 显示
■ 提供和计算机连接的输出端口
■ 提供打印机端口
■ 便携且易于安装
■ 为晶圆硅片关键生产工艺提供精确的无接触测量
■ 高质量微处理器为精确和重复精度高的测量提供强力保障
■ 高质量 聚四氟乙烯晶圆测试架,为晶圆硅片精确定位提供保障
■ 晶圆硅片测试尺寸: 50 mm - 300mm.
■ 厚度测试范围: 1000 um , 可扩展到 1700 um.
■ 厚度测试精度: +/-0.25um
■ 厚度重复性精度: 0.050um
■ TTV 测试精度 : +/-0.05um
■ TTV 重复性精度 : 0.050um
■ 弯曲度测试范围: +/-500um [+/-850um]
■ 弯曲度测试精度: +/-2.0um
■ 弯曲度重复性精度: 0.750um
■ 晶圆硅片导电型号: P 或 N 型
■ 材料: Si , GaAs , InP , Ge 等几乎 所有半导体材料
■ 可用在: 切片后、磨片前、后, 蚀刻,抛光 以及出厂、入厂质量检测等
■ 平面 / 缺口:所有的半导体标准平面或缺口
■ 硅片安装:裸片,蓝宝石 / 石英基底, 黏胶带
■ 连续 5 点测量
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LED 灯测试仪器 产品名称: 光功率计 产品型号: FLA1200 产品介绍: FLA1200 光功率计是光辐射测试的基本仪器, 它可配备积分球和相关的光学装置, 可实现对光源的光辐 射通量参数的测量。它采用光度探测器和仪表分立的模式,实现宽波长的测量。 本仪器具有多档量程自动切换,测量范围宽,功能强大,显示直观,配备 RS-232 通讯口可与计算机 连接通讯等特点。 技术规格: 辐射功率测试范围: 10μW~ 5W; 光度线性: 0.3% ; 光度准确度: 0.5% ; 显示范围: 0.0001~99999 ; 零点漂移: 3 个字 (30 分钟); 具有多档量程切换,自动校零及自我标定功能 产品名称: 智能多功能光度计 产品型号: FLA1200 产品介绍: FLA1200 智能多功能光度计是光辐射测试的基本仪器, 它可配备积分球和相关的光学装置从而实现对 光源的光通量、光照度
继电器测试仪 作者:北京中仪 来源:www.59117.net.cn 继电器的继电特性 继电器的输入信号 x从零连续增加达到衔铁开始吸合时的动作值 xx, 继电器的 输出信号立刻从 y=0跳跃到 y=ym,即常开触点从断到通。一旦触点闭合,输入量 x继续增大,输出信号 y将不再起变化。 当输入量 x 从某一大于 xx 值下降到 xf, 继电器开始释放, 常开触点断开。 我们把继电器的这种特性叫做继电特性, 也叫 继电器的输入 -输出特性。 释放值 xf 与动作值 xx 的比值叫做反馈系数,即 Kf= xf /xx 触点上输出的控制功率 Pc与线圈吸收的最小功率 P0之比叫做继电器的控制 系数,即 Kc=PC/P0 继电器( relay )的工作原理和特性 简介 当输入量 (如电压、电流、温度等 )达到规定值时,使被控制的输出电路导 通或断开的电器。可分为电气量 (如电流、电压、频率