中文名 | 干涉比长仪 | 外文名 | interference comparator |
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所属学科 | 物理学 | 公布时间 | 2019年 |
《物理学名词》第三版。
2019年经全国科学技术名词审定委员会审定发布。
干涉原理上来说,白光和激光没有本质区别,就是频率有差别而已 。但目前使用的大部分迈克尔逊干涉仪是 白光式的。
观察条纹反差起伏周期光程差改变量相干度相干度=平均波平/波差波差=平均波平/相干度原理:假设反差光程差改变量=(m+1)λ1=mλ2=相干度m=λ1/(λ2-λ1)相干度=mλ...
白光干涉仪是用于对各种精密器件表面进行纳米级测量的仪器,它是以白光干涉技术为原理,光源发出的光经过扩束准直后经分光棱镜后分成两束,一束经被测表面反射回来,另外一束光经参考镜反射,两束反射光最终汇聚并发...
用激光干涉仪系统进行精确的线性测量 — 最佳操作及实践经验 1 简介 本文描述的最佳操作步骤及实践经验主要针对使用激光干涉仪校准机床如车床、铣床以及 坐标测量机的线性精度。但是,文中描述的一般原则适用于所有情况。与激光测量方法相 关的其它项目,如角度、平面度、直线度和平行度测量不包括在内,用于实现 0.1 微米即 0.1 ppm 以下的短距离精度测量的特殊方法(如真空操作)也不包括在内。 微米是极小的距离测量单位。( 1 微米比一根头发的 1/25 还细。由于太细,所以肉眼无 法看到,接近于传统光学显微镜的极限值)。可实现微米级及更高分辨率的数显表的广泛 使用,为用户提供了令人满意的测量精度。尽管测量值在小数点后有很多位数,但并不表 明都很精确。(在许多情况下精度比显示的分辨率低 10-100 倍)。实现 1 微米的测量分 辨率很容易,但要得到 1 微米的测量精度需要特别注意一些细节。本文
SJ6000激光干涉仪产品采用美国进口高稳频氦氖激光器、激光双纵模热稳频技术、高 精度环境补偿模块、 几何参量干涉光路设计、 高精度激光干涉信号处理系统、 高性能计算机 控制系统技术,实现各种参数的高精度测量。通过激光热稳频控制技术,实现快速 (约 6 分 钟)、高精度 (0.05ppm)、抗干扰能力强、长期稳定性好的激光频率输出,采用不同的光学镜 组可以测量出线性、角度、直线度、平面度和垂直度等几何量,并且可以进行动态分析。 SJ6000 激光干涉仪产品具有测量精度高、测量速度快、最高测速下分辨率高、测量范 围大等优点。通过与不同的光学组件结合,可以实现对直线度、垂直度、角度、平面度、平 行度等多种几何精度的测量。在相关软件的配合下,还可以对数控机床进行动态性能检测, 可以进行机床振动测试与分析, 滚珠丝杆的动态特性分析, 驱动系统的响应特性分析, 导轨 的动态特性分析等,具有极高的精度
本规程适用于新制造、使用中和修理后的激光干涉比长仪的检定。
比长仪是以不接触光学定位方法瞄准被测长度,主要用于测量线纹距离的精密长度测量工具。
比长仪一般采用测量显微镜或光电显微镜作为瞄准定位部件,并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度,与被测长度比较而确定量值。比长仪主要用于检定线纹尺,测量分划板上的线距和物理、天文类照相底片上的光波谱线距离,也可用于测量孔径。
比长仪按结构布局分为纵向的和横向的两类。纵向比长仪采用线纹尺作为已知长度,且结构设计符合阿贝原则,称为阿贝比长仪。测量时,先用测量显微镜瞄准被测线条,从读数显微镜读得一数值。然后移动工作台,再用测量显微镜瞄准另一被测线条,从读数显微镜读得另一数值。这两个数值之差即是被测两线条间距离。
横向比长仪的被测长度和已知长度是并列布置的,这种布局可以缩短导轨长度,但要求导轨精度高。采用爱宾斯坦光学系统,可以补偿结构不符合阿贝原则而产生的测量误差。以光电显微镜代替上述两种显微镜者,称为光电比长仪;采用激光或其他单色光波长作为已知长度者,分别称为激光比长仪和光电光波比长仪。阿贝比长仪的测量精确度为±1~±1.5微米/200毫米,光电比长仪可达到±0.5微米/1000毫米,而光电光波比长仪和激光比长仪则可达到±0.2微米/1000毫米。