材料表面积的测量—高光谱成像三维面积测量法

国家标准《材料表面积的测量—高光谱成像三维面积测量法》（GB/T 40139-2021）规定了基于高光谱成像技术测量材料表面积的方法。该标准适用于食品接触材料、首饰及其他材料表面积的测量。该标准不适用于孔直径小于1mm的多孔材料，以及含有直径小于1mm条状纹理的材料。

作为国家推荐性标准，建议在广大检测机构中推广此标准。企业采用该标准的检测方法对产品进行相关的供应链质量管理和风险管理，提高产品质量，护航“中国制造”。该标准推广时建议相关行业主管部门和全国质量监管重点产品检验方法标准化技术委员会进行联合推广，可采用免费标准宣贯培训、微信公众号等形式让标准得到有效的贯彻实施，发挥标准的实际作用。

材料表面积的测量—高光谱成像三维面积测量法编制进程

• 标准计划

2019年7月12日，国家标准计划《材料表面积的测量—高光谱成像三维面积测量法》（20192203-T-469）下达，项目周期24个月，由TC374（全国质量监管重点产品检验方法标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中华人民共和国国家标准化管理委员会。

• 起草阶段

标准起草组于2019年10月18日在深圳召开标准启动会议，形成了标准制定方案，正式启动了标准制定和编写工作。2019年10-2020年2月，标准起草组按照标准启动会制定的方案进行信息收集和调研、标准方法参数的实验优化及技术论证等标准制定工作，在此基础上编写了国家标准和编制说明的征求意见稿。

• 发布实施

2021年5月21日，国家标准《材料表面积的测量—高光谱成像三维面积测量法》（GB/T 40139-2021）由中华人民共和国国家市场监督管理总局和中华人民共和国国家标准化管理委员会发布。

2021年9月1日，国家标准《材料表面积的测量—高光谱成像三维面积测量法》（GB/T 40139-2021）实施。

材料表面积的测量—高光谱成像三维面积测量法制定依据

国家标准《材料表面积的测量—高光谱成像三维面积测量法》（GB/T 40139-2021）依据中国国家标准《标准化工作导则—第1部分：标准化文件的结构和起草规则》（GB/T 1.1-2020）规则起草。

材料表面积的测量—高光谱成像三维面积测量法起草工作

主要起草单位：深圳市计量质量检测研究院、中检华纳（北京）质量技术中心有限公司、成都产品质量检验研究院有限责任公司、华纳通标（北京）认证有限公司、中检联盟（北京）质检技术研究院有限公司。

主要起草人：黎永乐、杨俊、郑燕燕、陈树娣、张其美、钟文健、蔡潼玲、王杰、叶秀玲、杨春尧、区振源、刘瑜、谢晓娟、吴婉君、吴燕蕙、李淅、胡玉玲、李祖敏、孟杰、李波、蔡小先、郑存哲。

参考资料：

国家标准《材料表面积的测量—高光谱成像三维面积测量法》（GB/T 40139-2021）的制定，可以帮助相关企业获取准确的表面积数据，继而使食品接触材料中总迁移量、特定迁移量的检测以及首饰中镍释放的检测更准确，从而能有效提升企业产品的社会认知度，创造良好的经济效益。 2100433B

利用 ICP 技术刻蚀硅形成深槽制作三维结构，则其表面积相对于二维平面结构将会有较大的增加。B 表示同底面积上三维立体结构所增大表面积的倍数，S2D、S3D 分别代表二维(平面)结构和三维结构表面积，L 为梳齿总长度，W为总宽度，H 为梳齿高度，W1 为单个梳齿宽度，W2为两个梳齿之间的距离，则单个梳齿长度为 W－2W1–W₂.