测厚仪技术参数

激光测厚仪:是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。

X射线测厚仪:利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.

纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

X射线测厚仪:适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中，x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

涂层测厚仪F型探头可直接测量导磁材料(如钢铁、镍)表面上的非导磁覆盖层厚度(如:油漆、塑料、搪瓷、铜、铝、锌、铬、等)。可应用于电镀层、油漆层、搪瓷层、铝瓦、铜瓦、巴氏合金瓦、磷化层、纸张的厚度测量，也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。

涂层测厚仪:

涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。

涂层测厚仪具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL);

设有五个统计量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)

涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:

1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢，铁，银，镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法:适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。

4.电解测厚法:此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。

5.放射测厚法:此处仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上)，适用于一些特殊场合。

国内目前使用最为普遍的是第1/2两种方法。

激光测厚仪:

板材(钢坯)激光厚度检测系统具有无辐射、成本低、便于维护等特点，激光测厚仪是通过采用自主激光检测技术及可靠的防护措施研制而成的，完全满足热轧板坯厚度检测的需求。

激光测厚仪是基于三角测距原理，使用集成式的三角测距传感 器测量出从安装支架到物体表面的距离，进而根据支架的固定距离计算得出物体的厚度。

激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑，成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上，产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时，其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变，相应地其像点在光敏器件上的位置也要发生变化，进而可计算出被测物体的实际移动距离。

纸张薄膜测厚仪:

纸张薄膜测厚仪采用机械接触 式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

非接触式纸张测厚仪:

英国真尚有公司研发的测厚仪使用了新的非接触式测量方法，可以实现对纸张的非接触式测量，避免对纸张造成形变引起误差。测量精度达到微米级，是目前精度最高的测厚仪，并且可以在线测量。实现生产自动化的闭环控制。

非接触式测厚仪的测量原理:使用两个纸张厚度传感器安装在被测物(纸张)上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标被测物体的厚度值。非接触式纸张测厚仪同样可以测量其他薄膜类、片材类物体的厚度。

磁性测厚仪:

磁性测厚仪一体式仪器结构，可以单手操作。它采用电磁感应原理，适用于测量各种磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，可以测量钢铁上的各种电镀(镀镍除外)、涂层、珐琅、塑料等覆盖层厚度，还可用于测量各种金属箔(如铜箔、铝箔、金箔等)和非金属薄膜(如纸张、塑料等)的厚度。本仪器可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。符合国家标准。

涡流测厚仪:

涡流测厚仪是一种小型仪器，采用涡电流测量原理，可以方便无损地测量有色金属基体上的油漆、塑料、橡胶等涂层，或者是铝基体上的阳极氧化膜厚度等。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。

涡流测量原理是高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

测量注意事项:

1.为了减少测量体材质对测量精度的影响。建议采用不带涂层的测量体或与测量体材质相同的标准试块作为校准用基准块。

2.测量完毕，轻按一下电源键，关断整机电源，并在测量头的触头及基准块上涂少许油脂以防生锈。

3.本仪器有自动关机功能如不进行任何操作大约一分钟后就自动关机。

4.仪器应防止剧烈震动、撞击。使用后应擦净仪器表面油污放入仪器箱内妥善保存。

5.严禁敲击或碰撞探头以免影响探头性能;严禁捏住探头尾部测量。

单用测厚仪:采用磁性测厚方法，可无损伤地检测磁性金属基铁(如:铁、钢、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如:锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。单用测厚仪广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。符合GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量。便携设计，手掌大小，采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力;天津市精科材料试验机厂是专业生产油漆、涂料、油墨设备材料试验机及涂料行业试验室专用设备的最大型企业。人性化设计，简单操作。在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质，无需手动转换，两种校准方式，零点校准和二点校准，宽角度LCD液晶显示，公制和英制单位转换，具有电源欠电压提示，操作过程有蜂鸣声提示，具有自动关机功能。

测厚仪按照测量的方式不同，可大致分为:

1、接触式测厚仪

接触面积大小划分:

点接触式测厚仪

面接触时测厚仪

2、非接触式测厚仪

非接触式测厚仪根据其测试原理不同，又可分为以下几种:

激光测厚仪

超声波测厚仪

涂层测厚仪

X射线测厚仪

白光干涉测厚仪

电解式测厚仪

管厚规

1、塑料上的铜、铬层:建议用库仑法测厚仪(会破坏镀层)或X射线测厚仪(无损测量)，如铜层在10m~200m可考虑电涡流法测厚仪(无损测量)。

2、金属件上镀锌层:如在钢铁基体上应使用经济的磁感应法测厚仪(无损测量)。其它金属基体用库仑法测厚仪(会破坏镀层)或X射线测厚仪(无损测量)。

3、铁基体上的电泳漆，油漆应使用经济的磁感应法测厚仪(无损测量)。其它金属基体上的电泳漆，油漆应使用经济的电涡流法测厚仪(无损测量)。

4、干膜是指己固化了的油漆涂层。

5、镀铬层参考2项、1项。

6、车内外饰件喷漆只有用切锲法(PIG，会破坏涂层)，超声波法(无损测量)可测10微米以上涂层，但有时测不到。

7、价格:磁感应法、电涡流法0.6~3万;库仑法0.8~6万;超声波法5.5~6万;X射线测厚仪25~40万。

测厚仪的测试方法主要有:磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。

测量注意事项:

⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。

⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。

⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

HG/T 3240-1987 搪瓷测厚仪技术条件

HG/T 3240-2007 电脑膜层测厚仪

HG/T 3241-1989 内孔涂层测厚仪技术条件

HG/T 3241-2007 电脑内孔膜层测厚仪

JJF 1126-2004 超声波测厚仪校准规范

JJG (轻工) 87-1992 便携式地毯测厚仪检定规程

JJG 403-1986 超声波测厚仪

JJG 480-1987 X射线测厚仪检定规程

JJG 818-1993 电涡流式测厚仪(试行)

JJG 889-1995 磁阻法测厚仪

NJ 372-1985 轮辋用测厚仪

ZB N 13003-1987 搪瓷测厚仪技术条件

ZB N 77001-1989超声测厚仪通用技术条件

1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。

2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。

3、纸张测厚仪:适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

4、薄膜测厚仪:用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

5、涂层测厚仪:用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.

6、超声波测厚仪:超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪，磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米，这类仪器又分探头与主机一体型，探头与主机分离型，前者操作便捷，后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测，测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金，银等金属的厚度。

仪器由德国生产，集合了磁性测厚仪和涡流测厚仪两种仪器的功能，可用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。如:

* 钢铁上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。

* 铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。

* 铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。

* 铝、铜、金等箔带材及纸张、塑料膜的厚度。

* 各种钢铁及非铁金属材料上热喷涂层的厚度。

仪器符合国家标准GB/T4956和GB/T4957，可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。

仪器特点

* 采用双功能内置式探头，自动识别铁基或非铁基体材料，并选择相应的测量方式进行精确测量。

* 符合人体工程学设计的双显示屏结构，可以在任何测量位置读取测量数据。

* 采用手机菜单式功能选择方式，操作十分简便。

* 可设定上下限值，测量结果超出或符合上下限数值时，仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。

* 稳定性极高，通常不必校正便可长期使用。

技术规格

量 程: 0~2000μm ,

电 源: 两节5号电池

标准配置

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。

覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有:楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。

采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

薄膜塑料复合膜纸张片材金属片CHY-5测厚仪/纸张测厚仪 - 测试原理 机械接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测量头自动降落于试样之上，在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。

CHY-5测厚仪/纸张测厚仪 - 技术特征

操作方便

液晶显示器

数据稳定

CHY-5测厚仪/纸张测厚仪 - 技术参数

1.测量范围:0-12.7㎜

2.分度值:0.001㎜

3.测量头直径:10mm(可选圆头测量头)

4.测量面间平行度:<0.035㎜

5.测试台面:双零级大理石台面

6.外型尺寸:210mm×160mm×260mm(长宽高)

7.重量:6kg

CHY-5测厚仪/纸张测厚仪 - 环境要求

1.环境温度:15℃-50℃

2.试验环境:无震动，无电磁干扰

3.相对湿度:最高80%，无凝露

4.工作电源:220V50Hz

CHY-5测厚仪/纸张测厚仪 - 配置

主机、测量头