场发射显微镜是金属中的自由电子在特定条件下可以发射出来,金属中的电子即可从阴极冷金属中发射,这种发射电子的方法称为场发射。
中文名称 | 场发射显微镜 | 外文名称 | Field Emission microscope(FEM) |
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属性 | 金属中的自由电子在条件可以发射 | 特征 | 发射电子的方法称为场发射 |
条件 | 超高真空中(1.3×10帕以下 |
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1993年经全国科学技术名词审定委员会审定发布。
《电子学名词》第一版。 2100433B
场发射透射电子显微镜概述
2.利用微区电子衍射、会聚束电子衍射及元素分析可对小至0.5nm尺度的物质进行结构和成分分析,因而特别实用于普通透射电镜难以分析的微细析出相,界面和畴等极小区域内成分、结构的研究。 3.利用所配置的GIF系统不但可分析物质的组成元素而且可分析组成元素的价态。
仪器类别: 03040701 /仪器仪表 /光学仪器 /电子光学及离子光学仪器 /透射式电子显微镜
指标信息: 具有高相干性、高亮度的场发射枪 最大倾转角:X=±35°,Y=±30° 加速电压:200kV、160kV、100kV、80kV 点分辨率:0.23nm EDS元素范围:B5~U92 晶格分辨率:0.102nm EDS能量分辨率:138eV
附件信息: 1.Gatan公司的GIF系统 4.普通单、双倾台 2.Link公司的EDS系统(超薄窗) 5.铍单、双倾台 3.日本电子株式会社的STEM系统 ,