表盘底盖缺陷检测仪氏应仪器特点

具有国际先进水平的测量软件包YVM-AOI将现代坐标测量技术、现代CAD工业设计技术和现代工业加工技术的几何量尺寸、公差评定测试要求进行了最佳结合，不管是简单的箱体类工件还是复杂的轮廓曲面类工件抑或是更加专业的LCD行业，YVM-AOI软件都为其提供了完美的测量解决方案。计算速度快、数学模型先进、功能齐全、操作直观、稳定性好。

产品型号 YX-AOI

工作环境参数 振动<0.1g,低于15HZ

仪器允许使用环境温度 10℃---35℃(恒温)

环境相对湿度 (60±5)%

能源 电源电压:220V电源，电压频率:50HZ,电源最大消耗功率不超过:500W

成像系统 工业镜头(500万像素)

最大光圈/焦距 F1.8-c/50mm

分辨率 500万

传输率 千兆位以太网

帧率 34fps,最大:在全分辨率50fps

像元尺寸 4um

量测范围 长0-48mm、宽0-43mm

整台机尺寸为 1200mm*400mm*600mm

重量 150KG

光源 24V/16WLED灯

拍摄精度 4um

软件分析精度 0.01mm

重复性精度 3um

计算机系统(宏基，联想) 品牌机(可选)CPU多核内存:4GB硬盘:500GB显卡:1G独立显卡显示器:21"LCD标屏操作系统:Windows7正版操作系统。提供完整的驱动程序，计算机专业操作桌，光学鼠标，键盘仪器优势:

(主要用于快速大范围检测，具有更高的分辨率)

摄像系统 采用面阵相机

摄像方法 面状区域拍摄

光源照明方式 同轴光源

照明系统 直射照明，24V16WLED灯

对焦方式 手动

时实亚像素找点 首次将亚像素高级图像处理技术引入影像仪检测行业，极大的提高了检测精度和检测效率，测量一个图元，较同类软件，至少节省3/5的时间，精度提高2倍以上(在相同光学倍率下)

光学辅助对焦 可帮助您调到最好的高度，极其精确的光学对焦，使光学和数字图像处理技术得到完美结合。既使使用普通镜头和普通CCD也可使测量结果的精度和重现性在2um以内，此项技术达到了国际先进水平，缩短了国内影像测量技术与国外技术的差距

快照 拍摄单张照片的功能

图片输出 测量结果可以图片的格式输出

设置公差 可设置产品的实际尺寸超出范围，超出则以红色背景警示

单位换算 公英制转换

角度自动矫正 矫正图像摆放角度

CCD矫正 矫正图像畸变

如:确认表盘表面的底色及底纹、表面是否刮花、有污渍、灰尘;确认时位字钉形状、粗幼、长短、颜色、夜光、少字钉、错字钉、钉伤、钉崩、钉污等;确认分线印刷的位置、大小、颜色、断划、少印刷等;确认LOGO印刷的位置、大小、颜色、断划、印刷不良等;确认日历窗的大小、印刷、披锋等;确认附加件有无、位置、配合等。

(重定向自盖格尔计数器) 盖革计数器。图中左下角的黑色管是其探测器--盖革管。

盖革氏计数器

盖革计数器的原理图盖革计数器(Geiger counter)又叫盖革-米勒计数器(Geiger-Müller counter)，是一种用于探测电离辐射的粒子探测器，通常用于探测α粒子和β粒子，也有些型号盖革计数器可以探测γ射线及X射线。