白炽灯泡光电参数的测量方法

前言

1范围

2规范性引用文件

3术语和定义

4测量系统

5测量步骤和计算方法

附录A(规范性附录)供电和电测线路图

附录B(规范性附录)测量系统不确定度验证的推荐方法

附录C(规范性附录)积分球推荐涂料及配方

附录D(规范性附录)CIE标准光度观察者的光谱视见函数V(λ)

附录E(规范性附录)色修正和吸收修正系数的计算

附录F(规范性附录)UCS图

附录G(规范性附录)相关色温线的斜率及其与黑体轨迹交点的坐标

附录H(规范性附录)试验色(i=1~14)的光谱反射系数ρi(λ)数值

附录I(资料性附录)色参数测量原理方框图

图1直流或交流供电系统

图2积分法测量光通量系统示意图

图3光谱光度法测量光通量系统示意图

图4发光强度测量系统

图5发光强度分布曲线测量系统

图6红蓝比法测量色温的系统

《白炽灯泡光电参数的测量方法(GB/T 15043-2008)》由中国标准出版社出版。

白炽灯泡为最早成熟的人工电光源，它是利用灯丝通电发热发光的原理发光。

一般而言，白炽灯泡的发光效率较低，寿命也较短，但使用上较方便。

人类使用白炽灯泡已有128年的历史了,提到白炽灯,大家自然会想到大发明家爱迪生,他为了找寻白炽灯丝的材料,试验过6000多种材料,最终用炭精丝试验出了第一只真正意义上的白炽灯,使用了45小时之后灯丝才熔断,后来经过爱迪生和后来者的不断改进,白炽灯才有了今天3000小时以上的寿命.

Langmuir在气体与金属表面相互作用方面的研究使得白炽灯的实际应用成为现实。GE公司著名科学家William Coolidge和Irving Langmuir完善了白炽灯泡用韧性钨金属制造技术，将其卷绕成丝以减少热损耗，并通过使用惰性气体防止灯泡发黑。正是对材料的研究使得白炽灯横空出世，也开创了产业中的材料科学与工程的运用

爱迪生发明白炽灯为人类文明的发展做出了很大的贡献,给人类带来了光明。但白炽灯与当今的荧光节能灯,LED节能灯相比,其发光原理,发光与电能效率低下,寿命也比较短,发热量以及安全性方面,均不可与荧光节能灯,LED灯相比,我们在感谢爱迪生的同时,为了节能,环保,也不得不让他发明的白炽灯走下历史舞台.

-------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------

激光频谱特性参数测量

激光频谱特性参数测量包括波长、谱线宽度和轮廓、频率稳定性和相干性等参数的测量。激光波长测量使用光谱仪和干涉仪。大多数激光波长计的主体部分是干涉仪。也可用差拍和外差的方法测量激光波长。

激光波长测量需要各级标准波长谱线辐射源。一般可使用各种元素灯。某些分子饱和吸收谱线稳定的高稳激光，其波长值的相对不确定度小于1×10-10,可作为精密测量的标准。在日常实验中，可用某些原子、分子的饱和吸收谱或光电流谱的谱线波长值来标定。后者方法比较简便，标定精度可达0.001埃。由于光速已知,波长测量也可通过光频测量来实现，但这需要有利用微波频标来测量光频的频率测量链。

激光频率稳定性是指连续运转的激光，在一定时间间隔内，频率起伏的方差与该时间内的平均频率之比。频率稳定性通常用拍频方法测量。谱线宽度测量须使用高分辨率的光谱仪和干涉仪。激光的相干性也可用干涉技术测量。

激光空域特性参数测量

激光空域特性参数测量包括测量激光光束直径、发散角、椭圆度、横模式、近场和远场花样等。这些参数是通过测量激光功率或能量的相对空间分布得到的。

光束直径的定义是,在确定的光束横截面上,激光强度降至中心值的1/2(或1/e、1/e2)处的环的直径。激光发散角则是光束直径对激光器输出窗所张的角。因此，它们的基本测量方法是，用配有狭缝或光阑的能量或功率探测器沿光束横截面扫描，或者把阵列探测元件直接对准光束测量，借助电视录像扫描技术获得图形和数学显示。测量光束直径、远近场花样和发散角的一种简便而粗略的方法，是将已感光的相纸、荧光材料或像增强器的靶面置于光束的适当部位，取得光束的形状，并对它进行分析和测量。当激光能量或功率足够强时，在激光输出的方向上放置一个长焦距透镜，观测其焦平面上靶材烧蚀的孔径，就可以测出发散角

激光时域特性参数测量

激光时域特性参数测量包括脉冲波形和宽度、峰值功率、重复功率、瞬时功率、功率稳定性等的测量。峰值功率是较为重要的时域特性参数，但是它要通过激光能量和脉冲宽度或波形测量才能求出。激光时域参数测量需要配备响应速度足够快的线性探测器和记录、存储、显示系统。激光脉冲宽度在100~5纳秒时，使用带宽100~500兆赫的示波器，最好是记忆示波器或波形数字器。激光脉冲宽度短到1纳秒以下时,则使用高速电子光学条纹照相机，或双光子吸收荧光法和二次谐波强度相关法等测量技术。