薄膜测厚仪

薄膜测厚仪根据其测量方式的不同，可分为：

接触式薄膜测厚仪：点接触式，面接触式。

非接触式薄膜测厚仪：射线，涡流，超声波，红外等

注：我们所能见到的包装材料实验室厚度测试的标准，包括国家标淮，国际、美国、日本、欧洲标准等均指定采用机械式测厚中的面接触测厚的方式，同时该方法也被作为薄膜，铝箔，纸张等材料的仲裁方法。

薄膜测厚仪接触式设备

应用范围

采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

技术特征

严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择

实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断

配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性

系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果

系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看

标准的RS232接口，便于系统的外部连接和数据传输

支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告

执行标准

ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

技术指标

负荷量程：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选）

分辨率：0.1μm

测量速度：10 次/min （可调）

测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）

接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）

注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

电源：AC 220V 50Hz

外形尺寸：300mm(L)×275mm(W)×300mm(H)

净重：33kg

仪器配置

标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件

选购件：专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码

薄膜测厚仪非接触式设备

英国公司研发出的非接触式测量方法测厚仪，可以实现对薄膜的非接触式测量，避免对纸张造成形变引起误差。

测量原理

使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。

非接触式薄膜测厚仪的出现，大大提高了纸张等片材厚度测量的精度，尤其是在自动化生产线上，得到广泛应用。

塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均，会影响到阻隔性、拉伸强度等性能；对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。

：数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。