X射线荧光光谱仪

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分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。

X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。

波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。

能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。

0303040903 /仪器仪表 /成分分析仪器 /荧光光度计

1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度<13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F~U之间所有元素，含量范围是ppm~100% 4.分析软件是Philips公司(现为PANalytical)最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。精密度:在计算率N=1483870时，RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03%

非色散谱仪不是采用将不同能量的谱线分辨开来，而是通过选择激发、选择滤波和选择探测等方法使测量分析线而排除其他能量谱线的干扰，因此一般只适用于测量一些简单和组成基本固定的样品。

如果n1>n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空气相比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1>α2(图2.20右图)，即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1<α临界时，界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中，这就是全反射现象。

X射线荧光光谱法有如下特点:

分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定;

荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便;

分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差;

分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。

能量色散x射线荧光光谱仪energy-disnersi}e x-ray flu-orexence spectromet。利用脉冲高度分析器进行能量色散的x射线荧光光谱仪公与波长色散x射线荧光光谱仪相比，它的结构简单。可使用小功率x射线管激发和简单的分光系统。采用半导体探测器和多道脉冲高度分析器可提高分辨本领，由微处理机处理，可同时恻定试样中}o一sn种元素，分 析速度快。

1、目前的台式X射线荧光光谱仪普遍使用最新的硅漂移探测器技术，而且拥有全面的数据追溯能力，也可以选择各种软件功能，其性能接近甚至一些方面超越了大型落地式光谱仪。

2、台式X射线荧光光谱仪对元素周期表上氟(F)及其以后的元素给出准确、精密和可靠的结果，它们的性能可以与体积更大、功能更强的光谱仪相媲美，有些情况下甚至可以超越它们。

3、台式X射线荧光光谱仪通过在激发和探测技术上的革新后，在对轻元素的分析功能方面表现更优，成为一种经济高效的，高度灵敏度的元素分析工具。

4、台式X射线荧光光谱仪小巧的体积，简单的安装及电源要求使其成为现场及野外便携观测的有力工具。

台式X射线荧光光谱仪适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品，样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等。