X射线分析器是指对X射线波长进行分析的仪器。
X-ray analyzer
机械工程(一级学科),分析仪器(二级学科),能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件(三级学科)
X射线分析器
X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由...
伽玛射线与X射线探伤除了传感器的区别外,最大的区别就是放射源:一个是采用放射性物质作放射源,一个是X射线发生器为放射源;一个是只要暴露就有射线辐射出来,而另一个设备不通电工作就完全没有辐射危险;所以,...
仪器是较新型X射线荧光光谱仪,具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻...
对X射线波长进行分析的仪器。
PerkinElmer光电公司推出了一种高速度、高数据传输的数字X射线探测器,应用于工业和医学领域,如:管线检测、诊断及治疗医学成像等。这种无定形硅基(a-Si)数字X射线探测器能提供30fps拍摄速率、16bit分辨率的实时图像。该探测器能抗
介绍了垂直多结器件的结构,给出了热迁移制结的工艺条件和结果,特别介绍了处理器件电极引线的隔离线方法,解决了经过热迁移掺杂后光刻电极套不准的难题,以及把所有p型区域连接起来的问题,达到了敏感区金属零遮挡的目的.同时分析了工艺条件对器件性能的影响.通过对敏感区和无效区的计算和对比,对器件的几个电流参数进行了详细的计算;对两种靶材的标识谱在器件内产生的光电子的收集效率做了计算,对器件的光谱响应度也作了计算和分析;同时对器件窗口材料的选择进行了详细讨论;最后叙述对器件进行的实验验证,通过对金属模板上模拟缺陷的测量,证明器件有足够的灵敏度和分辨率.
X射线仪,是一种用来产生X射线的设备。
X射线仪可以分为工业用X射线仪和医用X射线仪。工业用X射线仪可以按照产生射线的强度分硬射线机和软射线机。用于理化检测的衍射分析仪等属于软射线,而用于大,厚材料的检测的是硬射线。硬射线的产生可以用高压电的办法,如100Kv 或300Kv的电压加到x射线管字上,产生的射线可以穿透5--50mm的钢板。而用电子加速器的办法可以产生穿透100mm以上的钢板的射线。使用高压电办法的机器可分为,便携式,和移动式(固定式)。
X射线仪原理、构造及发现:1895年德国物理学家伦琴在研究阴极射线管中气体放电现象时,用一只嵌有两个金属电极(一个叫做阳极,一个叫做阴极)的密封玻璃管,在电极两端加上几万伏的高压电,用抽气机从玻璃管内抽出空气。为了遮住高压放电时的光线(一种弧光)外泄,在玻璃管外面套上一层黑色纸板。他在暗室中进行这项实验时,偶然发现距离玻璃管两米远的地方,一块用铂氰化钡溶液浸洗过的纸板发出明亮的荧光。再进一步试验,用纸板、木板、衣服及厚约两千页的书,都遮挡不住这种荧光。更令人惊奇的是,当用手去拿这块发荧光的纸板时,竞在纸板上看到了手骨的影像。当时伦琴认定:这是一种人眼看不见、但能穿透物体的射线。因无法解释它的原理,不明它的性质,故借用了数学中代表未知数的"X"作为代号,称为"X"射线(或称X射线或简称X线)。这就是X射线的发现与名称的由来。工业射线机正是使用了这种特性,利用高压变压器加在两个金属电极上的高压产生射线。X射线仪用于航天,石油建设,天然气管道,锅炉,压力容器等无损探伤中不可缺少的设备。
怎样根据需要去购置合适的,既经济又实用的X射线探伤机,就必须正确地选择X射线探伤机。一般选择X射线探伤机都要考虑穿透能力、X射线管焦点大小、被检工件形状等。
X射线探伤机的穿透能力取决于X射线探伤机的容量,既X射线探伤机的管电压,管电压愈高,X射线愈硬,能量愈大,穿透能力就愈强,穿透能力与管电压平方成正比。另外,在相同的管电压下,还与被检验工件的材质的密度等性质有关,也就是与被检验工件对X射线的衰减能力有关。对于钢铁等重金属以及较厚的工件,由于其对X射线的衰减能力较强,故应选择管电压较高的X射线探伤机;而对于铝、镁等轻金属和较薄的工件,可以选择管电压较低的X射线探伤机。
对于圆形的工件,如锅炉简体或容器上的环焊缝,应首先考虑选择周向曝光的射线探伤机,以提高工件效率,减轻劳动强度,减少放射线损伤。
对于工件较小,移动方便的,可选用移动式探伤机(固定式)X射线探伤机,而对工件笨重或高大设备,移动不方便,可选用携带式X射线探伤机。
X射线探伤机英文名称X-ray Flaw Detector
在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素,各元素都发射一组特征X 射线谱,能量相同或相近的谱峰叠加在一起,直观辨认谱峰相当困难,需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽和峰面积。谱的数学解法已研究出多种,并已编制成计算机程序。从解X 射线谱中可得到某一待测元素的特征谱峰的面积(峰计数),根据峰面积可计算出该元素的含量。这种直接计算的办法需要对探测系统标定探测效率、确定探头对靶子所张立体角、测定射到靶子上的质子数等。
在实际分析工作中多采用相对测定法,即将试样和标样同时分析比较,
设试样和标样中待测元素的特征X 射线谱峰计数为NX 和NS,含量为Wx 和WS则得:
Wx=NxWs/Ns