HSCA-2000总硫分析仪测量原理

测量原理:能量色散法 X-射线荧光法(EDXRF)

X-射线荧光是由于原子内层轨道电子受到高能X-射线激发而产生的一种现象。当X-射线激发原子的内层电子，使电子从内层逸出并在内层电子轨道产生空穴，这时原子会自于不稳定的高能状态。外层轨道的电子会向内层的空穴迁移，迁移过程中会释放出能量，即产生X-射线荧光现象。所产生的X-荧光的能量，与原子结构有关，对于特定的元素原子，采用特定能量的X-射线激发，会产生特征的X-荧光。

对于硫原子，其 K 层电子被激发而逸出，其L 层电子迁移到K 层，这个特定的X-射线荧光的能量主要是S-Kα线，其能量为2.31keV，少量的是S-Kβ线，其能量为2.46keV。

特点

●测定方法:能量色散型 X-射线荧光法(EDXRF)，属于非破坏样品的分析方法

●无可动部件，不需要分光晶体等单色器部件，结构简单且易于维护

●取得日本 TIIS 防爆认证 Expd IIB T4

●采用 Windows XP 系统的工业计算机及触摸屏进行操作

●测 量 方 法 符合 GB/T 17040-2008 和 ASTMD4294-2003 的规定。

规格

产品名称:

高灵敏度总硫含量分析仪

型号:HSCA-2000

测量对象:

石油产品中的总硫含量，包括汽油、石脑油、煤油和柴油

测量方法:

能量色散型 X-射线荧光分析法(EDXRF)

防爆等级: 组合型防爆认证，Expd IIBT4 (分析单元，隔爆型;控制单元，正压吹扫型)

测量量程:0~10ppm 或 0~500ppm

重复性:±2%满量程

线性度:±2%满量程

模拟输出:

4~20mA DC，最大电阻负载600Ω

仪器异常报警信号:

1 点，常闭型，0.5A/30VAC或0.5A/30VDC

通信(选项):

可选 MODBUS / TCP/IP / HART

公用工程: 干净干燥仪表风，20NL/min，0.4~1.0MPa

氦气，5~10NmL/min，0.5~1.0MPa

冷却水(如果需要)，温度不高于35℃，压力不高于0.5MPa

供电电源:100VAC ~ 240VAC，50/60Hz，300VA

X-射线源:端窗型 X-射线管

检测器:低背景比例器

流通池材质:

SUS304 不锈钢，Viton，铍膜(带涂层保护)

样品温度:不高于60℃

样品压力:测量池入品不高于0.5MPa(样品预处理单元入品最高可达2MPa)

分析单元系统尺寸:

800W*400D*1000Hmm

分析系统单元重量:约100 公斤

环境条件

温度:0~50℃

湿度:不高于85%RH

碳硫分析仪一般是指对钢铁材料中的碳硫元素进行定量分析的仪器总称。

碳硫分析仪按照分析方法和原理有下列几种:

1、红外吸收法碳硫分析仪:高频红外碳硫分析仪，电弧红外碳硫分析仪，管式红外碳硫分析仪

2、气体容量法/碘量法碳硫分析仪:高速碳硫分析仪，气体容量法碳硫分析仪

3、非水滴定法碳硫分析仪

4、电导法碳硫分析仪

5、还有ICP法、直读光谱法、X光荧光法、质谱法、色谱法、活化分析法等类碳硫分析仪