EMI传导噪声分析仪

CISPR17

1. 最小化EMI调试周期

2.具有通过噪声的来源和路径对噪声惊醒测量和分析的能力提供解决噪声的方法

3.具有设计在于有效的EMI滤波器及其元件选择的能力

4.通过使用最适合的元件对已经完成的产品进行重新设计以便最优化其性能指标

5.EMI调试与EMI元件的选择:差模(X电容，差模线圈);共模(共模线圈，Y电容)

6.在生产线上分析电源西的噪声，以便避免由噪声引起的任何功能实效

传导噪声分析仪主要是测量通过电源线传导对外发出的电磁干扰进行分离和分析，并建立起一整套的EMI噪声智能分析系统。传导噪声分析仪对于解决产品设计中的电磁兼容性问题，对于保护设备安全和缩短产品开发周期、增强产品竞争力和节省研发经费及帮助企业通过3C认证方面具有重要意义。

EMI-NA2000

辐射 EMI 干扰可以来自某个不定向发射源以及某个无意形成的天线。传导性 EMI 干扰也可以来自某个辐射 EMI 干扰源，或者由一些电路板组件引起。一旦您的电路板接收到传导性干扰，它便驻入应用电路的PCB线迹。常见的一些辐射 EMI 干扰源包括以前文章中谈及的组件，以及PCB板上开关式电源、连接线和开关或者时钟网络。

传导性 EMI 干扰是开关电路正常工作与寄生电容和电感共同作用产生的结果。图 1 显示了一些会进入到您的PCB线迹中的 EMI 干扰源情况。Vemi1 源自开关网络，例如：时钟信号或者数字信号线迹等。这些干扰源的耦合方式均为通过线迹之间的寄生电容。这些信号将电流尖脉冲带入邻近PCB线迹。同样，Vemi2 源自开关网络，或者来自PCB上的某个天线。这些干扰源的耦合方式均为通过线迹之间的寄生电感。该信号将电压扰动带入邻近PCB线迹。每三个 EMI 源来自于线缆内相邻的导线。沿这些导线传播的信号可产生串扰效应。

开关式电源产生 Vemi4。开关式电源产生的干扰驻存在电源线迹上，并以 Vemi4 信号的形式出现。

在正常运行期间，开关式电源 (SMPS) 电路为传导性 EMI 的形成带来机会。这些电源内的“开”和“关”切换操作，会产生较强的非连续性电流。这些非连续性电流存在于降压转换器的输入端、升压转换器的输出端，以及反激和降升压拓扑结构的输入和输出端。开关动作引起的非连续性电流会产生电压纹波，其通过PCB线迹传播至系统的其它部分。SMPS 引起的输入和/或输出电压纹波，会危害负载电路的运行。图 2 显示了工作在 2 MHz 下的一个 DC/DC 降压 SMPS 输入的频率组成例子。SMPS 传导干扰的基本频率组成范围为 90 – 100 MHz。

输入和输出针脚使用10 ?F滤波器时的传导性EMI测量。

共有两类传导性干扰：差模干扰和共模干扰。差模干扰信号出现在电路输入端之间，例如：信号和接地等。电流流经同相的两个输入端。但是，1号电流输入大小与2号相等，但方向相反（差动参考）。这两个输入端的负载，形成一个随电流强弱变化的电压。线迹1和差分基准之间的这种电压变化，在系统中形成干扰或者通信误差。

在您向电路添加一个接地环路或者不良电流通路时，便出现共模干扰。如果存在某个干扰源，则线迹 1 和线迹 2 上形成共模电流和共模电压，而接地环路充当一个共模干扰源。差模干扰和共模干扰都要求使用特殊的滤波器，来应对 EMI 干扰的不利影响。