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更新时间:2024.11.24
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电子元器件来料检验标准

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文件编号 版本 页次 1/6 制作部门 1.0目的 2.0适用范围 3.0抽样计划 3.1 抽样水准 (依《 IQC进料检验流程规范》) 3.1.2 LOT 定义 :原则为同一型号 ,同一拉別 ,同一生产条件的产品. 3.2 允许水准( AQL): 3.2.1 CR (致命不良):0 3.2.2 MAJ (严重不良): 0.4 4.0 检验条件: 4.3 目视距离:肉眼与被测物距离 30CM到45CM 2 )光线斜照射在被测物,检查者需垂直检查; 3 )光线不能直接反射到检查者的眼睛。 5.0 外观表面分级标准 5.1 一级表面 :在使用过程中能被用户首先看到的部份,即产品正面 5.2 二级表面:用户偶尔才看到的表面,此处的瑕疵不会对品质造成危害,即产品侧面以及背面; 修 编 写 改 记 录 4.1 位置:产品置放于检

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