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更新时间:2025.02.22
雷电冲击试验中的压敏电阻性能

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雷电冲击试验中的压敏电阻性能

一种嵌入Bicmos带隙电路的过温保护电路

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提出一种集成于带隙电路中的过温保护电路。该电路结构简单,在正常温度工作情况下不消耗额外功耗,具有低功耗的特性,同时电路不受电源电压变化的影响。电路采用JAZZ0.5umBiCMOS工艺库模型,对电路进行仿真表明,电路对电源电压变化的抑制能力强、对阈值温度和迟滞温度差的精度高。

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