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更新时间:2025.01.18
基于频率响应法的双CPU架构变压器绕组变形测试仪设计

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针对日益增多的变压器绕组变形故障,设计了一种以高性能DSP芯片TMS320F2812及ARMRCortexTM-M3芯片STM320F103为核心的基于频率响应法的变压器绕组变形测试仪。详细介绍了系统硬件设计方案及软件编程思想。DSP模块负责高速数据采集与运算。ARM模块通过SPI总线与DSP通信,实现测试仪的数据管理、用户界面以及联机通讯。采用数字频率合成技术DDS对待测变压器绕组进行扫频测量。系统采用软件滤波和硬件同步交流采样技术减小测量误差。能够在不对变压器进行吊罩、拆装的情况下进行绕组变形测试,显示高、低压三相绕组频率响应曲线及相关系数R。仿真测试结果表明该装置能够满足变压器绕组变形的测试要求。

频率响应法在线监测变压器绕组变形

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频率响应法在线监测变压器绕组变形 作者: 孙国繁, 陈建杰, 张世魁, SUN Guo-fan, CHEN Jian-jie , ZHANG Shi-kui 作者单位: 山西省电力公司运城供电分公司,山西,运城,044000 刊名: 电气开关 英文刊名: ELECTRIC SWITCHER 年,卷(期): 2011,49(3) 本文链接: http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_dqkg201103016.aspx

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