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更新时间:2024.11.24
金属镀层测量之SEM法

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近年来,随着我国半导体、电子、通讯、计算机等技术的快速发展,表面镀层质量的控制越来越受到重视,尤其是金属镀层的厚度和均匀性,直接影响到最终产品的工作性能、稳定性、可靠性和寿命。我国以前对镀层质量厚度没有控制要求,但现在对这

金属和金属键

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