从被试电线电缆上切取3根外观完整,表面无缺损的试样,试样的长度应不小于250mm。用干净不落屑、柔软、干燥、吸水的材料来回擦拭试样几次作清洁处理,对沾染严重的试样,可用酒精擦拭,再做干燥处理。用直径不大于0. 05mm的镀银圆铜线在试样的中部,以螺旋状缠绕形成两个电极,两电极的内侧相距50mm±1mm。每一电极的密绕圈数不得少于10圈。也可以采用宽度为10mm的清洁自粘性铜箔在试样上叠绕数圈,再用直径为0.2~0.5mm的圆铜线缠绕在铜箔上形成电极。用干净不落屑、柔软、干燥、吸水的材料来回擦拭试样的电极之间部分,作此清洁处理后,试样的电极之间部分应不再接触除环境空气外的其他任何物质。
表面电阻的测试可以采用直流比较法,也可以采用电压—电流法(高阻计法)。无论采用何种方法,试验设备和测量误差均应符合GB/T 3048.5的规定。只要测试的精度符合要求,也可采用其他测试仪器。
试验箱为透明的玻璃或有机玻璃器皿,箱体的尺寸应能保证试样不与箱体的任何一面相碰,箱盖和箱体应很好地密闭,以使空气的互换量最小。引接线应采用高绝缘电阻电线(如聚四氟乙烯绝缘电线)。无试样时,在规定的温度和相对湿度下,两引出线间的电阻至少比试样的表面电阻大100倍。箱内的Na2Cr2O7饱和水溶液是为使试验箱在20℃的环境中时,箱内的相对湿度能保持在50%±5%。
如试验箱同时放入几个试样,试样间的距离应不小于25mm。试验箱内有一湿度计,可以从试验箱的外面得到箱内的相对湿度值。
采用直流比较法或电压一电流法的测试系统要求,与绝缘电阻测量相同 。
利用直流四探针法测量半导体的电阻率 一,测试原理: 当四根金属探针排成一条直线,并以一定压力压在半导体材料上时,在1,4两根探针间通过电流I,则2,3探针间产生电位差V(如图所示). 根据公式可计算出...
ACL-800型兆欧标还不错,性价比相对来说也比较高,质量有保障。
200、300左右到大几百不等的国产的就可以了,有进口的接近1000,还是更贵的
将试样放入试验箱中,试样的两电极与引接线箱内端相连。试样应按产品标准规定进行环境条件化处理。如未作规定。则可将试验箱置于20℃±2℃的环境下。箱内的相对湿度应为50%±5%,试样在此条件下至少放置24h,作环境条件化处理。(在20℃时,Na2Cr2O2饱和水溶液的上方,相对湿度可保持为52%,也可以用其他物质的水溶液,如一定密度的甘油水溶液)。
将引接线的箱外端与测量系统相接,测出试样电极中间部分的电阻值,测试用电压为500V.除在产品标准中另有规定外,测试充电时间应足够充分,不少于1min,但不超,过5min。除产品标准中另有规定,测量时试样应在环境条件化处理完全相同的状态下进行。
(1)直流电压表的精度应不低于1.0级。
(2)高阻抗直流放大器、检流计或微安计在额定工作电压下8h内零点漂移应不超过仪表刻度标尺全长的4%。
(3)直流放大器输入电阻的阻值应比试样绝缘电阻至少小100倍。
(4)采用整流直流电源时电压必须稳定。因电源电压波动所引起的对试样的任何充电和放电电流,与测量绝缘电阻时的泄漏电流相比,应小至可以忽略不计,同时输出电压的纹波因数应不大于0.1%。连接线应有良好的屏蔽,其对地绝缘电阻比放大器输人电阻应至少大100倍 。2100433B
标准试样的类型及尺寸见图 2-1及表 2-1。 表 2-1标准试样的尺寸 单位:mm 序 号 厚度 a 宽度 b 过渡半径 r 原始标距 L0=kS0 平行长度 L c=L 0+2b 总长度 L t= L c+2h1+2h B h1 h 1 0.7 20 ≥20 21.14 61.14 190 30 ≥13.23 50 2 0.75 20 ≥20 21.88 61.88 190 30 ≥13.23 50 3 0.8 20 ≥20 22.60 62.60 190 30 ≥13.23 50 4 0.85 20 ≥20 23.30 63.30 190 30 ≥13.23 50 5 0.9 20 ≥20 23.97 63.97 195 30 ≥13.23 50 6 0.95 20 ≥20 24.63 64.63 195 30 ≥13.23 50 7 1.0 20 ≥20 25.27 65.27 1
个人收集整理 仅供参考学习 1 / 7 金相试样地制备 一、实验目地 (1)了解金相显微试样制备原理,熟悉金相显微试样地制备过程 . (2)初步掌握金相显微试样地制备方法 . 二、实验原理 金相试样制备 金相试样制备过程一般包括:取样、粗磨、细磨、抛光和浸蚀五个步骤 . 1.取样 从需要检测地金属材料和零件上截取试样称为 "取样 ".取样地部位和磨面地选择必须根 据分析要求而定 .截取方法有多种,对于软材料可以用锯、车、刨等方法;对于硬材料可以 用砂轮切片机或线切割机等切割地方法,对于硬而脆地材料可以用锤击地方法 .无论用哪种 方法都应注意,尽量避免和减轻因塑性变形或受热引起地组织失真现象 .试样地尺寸并无统 一规定, 从便于握持和磨制角度考虑, 一般直径或边长为 15~20mm,高为 12~18mm比较适宜 . 对那些尺寸过小、形状不规则和需要保护边缘地试样,可以采取镶嵌或机械夹
表面电阻值测量
可用表面电阻测试仪或兆欧表测量。 表面电阻测试仪是依据EOS/ESD, CECC、ASTM和UL测试规程设计的,用于测量所有导电型、抗静电型及静电泄放型表面的阻抗或电阻。分亮灯式和重锤式两种。
表面电阻又称表面比电阻。表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据。
它代表每平方面积电介质表面对正方形的相对二边间表面泄漏电流所产生的电阻。单位是欧姆。表面电阻的大小除决定于电介质的结构和组成外,还与电压、温度、材料的表面状况、处理条件和环境湿度有关。环境湿度对电介质表面电阻的影响极大。表面电阻愈大,绝缘性能愈好。
描述材料电阻特性通常用表面电阻率或体电阻率:
1.表面电阻率就是同一表面上两电极之间所测得的电阻值,将电极形状和电阻值结合在一起通过计算可得到单位面积的电阻值。
2.体积电阻率是指通过材料厚度的电阻值,单位:Ω·cm。